NI PXle-6570基于图形向量的数字通道板卡和NI数字图形向量编辑器。 该产品将射频集成电路、电源管理IC、微机电（MEMS）系统设备以及混合信号IC的制造商从传统半导体自动化测试设备(ATE)的封闭式架构中解放出来。

传统ATE的测试覆盖率通常无法满足最新半导体设备的要求。通过将半导体行业成熟的数字测试模式引入到基于PXI开放平台的半导体测试系统（STS）中,并使用功能强大且人性化的编辑器和调试器进行优化，用户可以利用先进的PXI仪器来降低射频和模拟IC的测试成本并提高吞吐量。

PXI数字模式仪器为半导体工程师提供所有高端数字测试平台才具备的数字性能，因此它的问世无疑是为STS锦上添花，如果生产车间的PXI具备这个功能，他们就可以在满足先进器件的成本和测试要求的同时，轻松将其扩展到其他产品的测试上。

0.18微米双极-互补-扩散金氧半导体Bipolar CMOS DMOS (BCD) 制程技术平台已通过业界最严格的AEC-Q100 Grade-0 车用电子硅芯片验证。该制程方案包含符合车用标准的FDK及硅智财解决方案，可用于车用电子之应用芯片如电源管理芯片进行量产。成功通过车规验证之制程方案后，联华电子所制造的车用电子芯片即可满足用于高温环境下高可靠性车辆应用最严格的需求。这是继成功量产AEC-Q100 Grade-1规格标准之产品后，再创另一技术发展的新里程碑。

车用电子的硅芯片含量，随着包括先进驾驶辅助系统(ADAS)、信息娱乐系统及导航系统等电子组件持续演进而急遽攀升。大众近来对于排放减量与能源效率有更高的期待，进而推升更先进的电源电子科技与组件的需求。此类科技与组件需要更严格的AEC-Q100 Grade-0制造标准，才能符合高温、零缺失的需求。联华电子以其0.18微米 BCD 制程，成为少数符合 AEC-Q100 Grade 1 & 0 半导体产品规范的晶圆厂，我们盼望能协助更多晶圆厂客户进入蓬勃发展的车用芯片市场。

新型增强隔离式双通道驱动器，具有高速传播延迟，强力驱动，以及通用兼容性的特点

5.7k VRMS隔离式双通道栅极驱动器，它是TI隔离产品组合中新型栅极驱动器家族的第一款产品。因其高度的灵活性和通用兼容性，UCC21520隔离式驱动器能够广泛地用于低端、高端、高端/低端或半桥电源管理设计。UCC21520的集成元件、先进防护功能和优化的开关性能，能帮助设计师为企业、电信、汽车和工业应用创建更小、更可靠的设计。

UCC21520为对系统防护和可靠性有高要求的高压应用而开发，可提供5.7 k VRMS的增强隔离，其浪涌抗扰度经测试高达12.8 kV，普通模式的瞬态过压抗扰度在100 V/ns以上。它拥有业内最快的19ns传播延迟，以及业内最紧密的低于5ns的通道至通道延迟匹配，UCC21520可提供高功率密度和高效率，使解决方案尺寸更小，在终端设备使用寿命内运行更可靠。

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