大规模逻辑及存储器件测试

发布时间:2020/8/23 23:29:37 访问次数:2417

ISSI IS2xES eMMC闪存驱动器集成有多阶存储单元 (MLC) NAND内存和智能嵌入式多媒体可(eMMC)控制器，还提供一个连接主机的标准接口。这些eMMC闪存驱动器可实施诸多功能，如坏块管理、错误处理（错误校正码）、静态和动态均衡抹除、每秒输入/输出操作（IOPS）优化以及读取检测。IS2xES eMMC设备支持增强模式，在该模式下，器件可配置为伪单阶单元 (pSLC），已实现更卓越的读/写性能、耐久性以及可靠性。这些闪存驱动器均采用工业级标准，有100球焊球阵列封装(BGA)和153球BGA两种封装，并集成有管理型NAND闪存。

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制造商: ISSI

产品种类: eMMC

RoHS: 详细信息

系列: IS21ES32G

存储容量: 32 GB

配置: MLC

连续读取: 254 MB/s

连续写入: 47.8 MB/s

工作电源电压: 3.3 V

最小工作温度: - 40 C

最大工作温度: + 85 C

尺寸: 14 mm x 18 mm x 1.4 mm

封装 / 箱体: FBGA-100

产品: eMMC Flash Drive

商标: ISSI

接口类型: eMMC 5.0

安装风格: SMD/SMT

湿度敏感性: Yes

产品类型: eMMC

工厂包装数量: 98

子类别: Memory & Data Storage

单位重量: 5.272 g

J750测试系统是一种超大规模逻辑及存储器件测试系统。本文通过一系列的数据采集，同时应用统计学的分析方法，借助于Minitab统计分析软件，分别对采集到的数据进行了分析，从而得到测试系统的一些性能参数，进而可以分析出测试系统的稳定性。通过这一系列分析后，可以找到影响生产率的各种因素，大大提高测试系统的工作效率，缩短产品的复测时间，提高良品率，提高测试的准确率，进而提高生产率。

数字测试中使用最多的就是Teradyne的J750超大规模测试系统。由于同一种产品在不同的测试系统上测试可能会存在差异，甚至在同一测试系统中，由不同的人操作都可能有差异，因此需要在生产过程中的一些固定时间段中适时地采集一些数据，将这些数据利用Minitab等分析软件，应用统计学上的知识进行统计分析。

从两方面对测试系统的稳定性进行了研究，第一种是从所有的J750测试系统中随机地选出4台测试系统，然后输入电压，测试输出电流的大小，通过测量值与理论值的比较来分析这4台测试系统的稳定性和差异性；第二种是随机选择3名操作员，在同一台测试系统上对10个样本进行测试分析，来研究同一台测试系统由不同的操作员操作所产生的差异。