自动测试系统发展简介 JS29F32G08AAMDB

   自动测试系统经历了从专用型、台式积木型到模拟化集成型三个阶段的发展过程。在初期仅侧重于自动测试设备(ATE)本体的研制和应用,随后重点建立整个测试系统的体系结构,同时注重ATE研制和测试程序集(TPS,Te哎h。gram%t)开发和可移植领域,以及人工智能在自动测试系统中的应用。目前,ATE正向分布式的集成诊断测试发展。

    第一代自动测试系统大多数为专用型系统,是针对具体测试项目而研制的。它主要应用于测试工作量极大的重复测试,高可靠性的复杂测试,在短时间内为提高测试速度必须要完成的规定测试,以及操作人员难以进入的恶劣环境测试。

    专用型测试系统至今仍在应用,各式各样的针对特定测试对象的智能检测仪就是其中的典型例子。随着计算机技术的发展,特别是随着单片机与嵌人式系统应用技术、以及能支持第一代测试系统快速组成计算机总线(PC△⒄)技术的飞速发展,这类自动测试系统已具有新的测试方法、研制策略和技术支持。第一代自动测试系统是从人工测试向自动测试迈出的重要一步,它在测试功能、性能、测试速度和效率,以及使用方便等方面明显优于人工测试,使用这类系统能够完成一些人

工测试无法完成的测试任务。

   专用型自动测试系统也存在着明显的不足,即仪器与仪器、仪器与计算机之间的接口及标准化方面,具体是指所选仪器/设备的复用性、通用性和互换性较差。