芯片内部测温电路原理
发布时间:2019/8/10 17:48:06 访问次数:2669
其中,S表示符号位。当s=0时,表示测得的温度值为正值,可直接将二进制转换为十进制;当S=1时,表示测得的温度值为负值,先将补码变成原码,再计数十进制值。芯片完成温度转换后,将测得的温度值r与RAM中的TH、TL字节内容做比较,r>TH或T(TL,则芯片的报警标志为置位,并对主机发出的报警搜索命令做出响应。因此,采用多只DS18B⒛能同时测量温度并进行报警搜索。IA0305KS-1W
在bZI位RoM的最低8位字节中存有循环冗余检验码(CRC)。主机根据R0M的前56位来计算CRC值,并与存入Ds18B⒛的CRC值作比较,以判断主机收发到的R0M数据是否正确。
测温工作原理
芯片内部测温电路原理框图如图11.5.7所示。低温度系数振荡器用于产生稳定的频率几,高温度系数振荡器相当于温度J/频率r转换器,实现将被测温度莎转换瑛频率信号几图中还包括计数门,当计数门打开时,芯片对低温度系数振荡器产生的时钟脉冲rO进行计数,进而完成温度测量,计数门的开启时间由高温度系数振荡器来决定。每次测量前,首先将-ss℃所对应的基数分别置人减法计数器、温度寄存器中,在计数门关闭之前若计数器已减至零时,温度寄存器中的数值就增加0.5℃。同时计数器依斜率累加器的状态置人新的数值,再对时钟计数,然后减至零,温度寄存器的值又增加0.5℃。只要计数门仍未关闭,就重复上述过程,直至温度寄存器值达到被测温度值。斜率累加器的作用是对振荡器的非线性予以补偿,以提高测量准确度。
芯片的典型测温误差曲线如图11.5,8所示。由图可见,在0~TO℃范围内,芯片的上、下限平均测温误差分别为+0,15℃、-0.2℃。
其中,S表示符号位。当s=0时,表示测得的温度值为正值,可直接将二进制转换为十进制;当S=1时,表示测得的温度值为负值,先将补码变成原码,再计数十进制值。芯片完成温度转换后,将测得的温度值r与RAM中的TH、TL字节内容做比较,r>TH或T(TL,则芯片的报警标志为置位,并对主机发出的报警搜索命令做出响应。因此,采用多只DS18B⒛能同时测量温度并进行报警搜索。IA0305KS-1W
在bZI位RoM的最低8位字节中存有循环冗余检验码(CRC)。主机根据R0M的前56位来计算CRC值,并与存入Ds18B⒛的CRC值作比较,以判断主机收发到的R0M数据是否正确。
测温工作原理
芯片内部测温电路原理框图如图11.5.7所示。低温度系数振荡器用于产生稳定的频率几,高温度系数振荡器相当于温度J/频率r转换器,实现将被测温度莎转换瑛频率信号几图中还包括计数门,当计数门打开时,芯片对低温度系数振荡器产生的时钟脉冲rO进行计数,进而完成温度测量,计数门的开启时间由高温度系数振荡器来决定。每次测量前,首先将-ss℃所对应的基数分别置人减法计数器、温度寄存器中,在计数门关闭之前若计数器已减至零时,温度寄存器中的数值就增加0.5℃。同时计数器依斜率累加器的状态置人新的数值,再对时钟计数,然后减至零,温度寄存器的值又增加0.5℃。只要计数门仍未关闭,就重复上述过程,直至温度寄存器值达到被测温度值。斜率累加器的作用是对振荡器的非线性予以补偿,以提高测量准确度。
芯片的典型测温误差曲线如图11.5,8所示。由图可见,在0~TO℃范围内,芯片的上、下限平均测温误差分别为+0,15℃、-0.2℃。
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