电缆或长尺寸导体上会感应出电流
发布时间:2019/7/11 21:09:14 访问次数:1070
就是辐射抗扰度测试时,产品中的电路受干扰的原因之一。但是从以上计算结果可以发现这个干扰电床并不高。FQB19N20C 实践中也发现按照这种原理所产生的干扰现象并不常见更常见的是另一种现象,即与辐射发射测试实质中单极天线或对称偶极子天线模型所对应的相反过程。当EUT处于辐射抗扰度测试环境中时,EUT中的电缆或其他长尺寸导体都会成为接收电磁场的天线,这些电缆或长尺寸导体端口都会感应出电压。同时,电缆或长尺寸导体上会感应出电流,感应出的电压通常是共模电压,这种感应出的电流通常是共模电流。例如,一个电缆长度为L的EUT置于自由空间中,自由空间的电场强度为E。,并当L≤入〃时,电缆上感应出的共模电流J:这也就意味着产品中的信号线、信号电缆越靠近机柜壁或参考接地板,其所受到的辐射影响就越小。
电缆上感应出的共模电流将会沿着电缆及电缆所在的端口注人到产品中,包括内部电路中,这种共模电流干扰正常工作电路的原理与其他瞬态共模电流干扰电路的原理一样,请参考1.5.5节的描述。
以共模为主的传导性抗扰度测试有很多,如IEC61O00-4-6或⒙011笱2-7标准规定的传导抗扰度测试;标准IEC61000-4-4规定的电快速瞬变脉冲群(EFT/B)测试;标准IEC61000-4-5规定的线对地浪涌测试;标准⒙011452-4规定的BCI测试、国军标C,JB152A中规定的CS1Og、CS1I4、CS115、CS116测试。其中标准IEC61OO0-4-4规定的EFT/B和⒙011笱2-4规定的BCI测试是最典型的共模抗扰度测试。
就是辐射抗扰度测试时,产品中的电路受干扰的原因之一。但是从以上计算结果可以发现这个干扰电床并不高。FQB19N20C 实践中也发现按照这种原理所产生的干扰现象并不常见更常见的是另一种现象,即与辐射发射测试实质中单极天线或对称偶极子天线模型所对应的相反过程。当EUT处于辐射抗扰度测试环境中时,EUT中的电缆或其他长尺寸导体都会成为接收电磁场的天线,这些电缆或长尺寸导体端口都会感应出电压。同时,电缆或长尺寸导体上会感应出电流,感应出的电压通常是共模电压,这种感应出的电流通常是共模电流。例如,一个电缆长度为L的EUT置于自由空间中,自由空间的电场强度为E。,并当L≤入〃时,电缆上感应出的共模电流J:这也就意味着产品中的信号线、信号电缆越靠近机柜壁或参考接地板,其所受到的辐射影响就越小。
电缆上感应出的共模电流将会沿着电缆及电缆所在的端口注人到产品中,包括内部电路中,这种共模电流干扰正常工作电路的原理与其他瞬态共模电流干扰电路的原理一样,请参考1.5.5节的描述。
以共模为主的传导性抗扰度测试有很多,如IEC61O00-4-6或⒙011笱2-7标准规定的传导抗扰度测试;标准IEC61000-4-4规定的电快速瞬变脉冲群(EFT/B)测试;标准IEC61000-4-5规定的线对地浪涌测试;标准⒙011452-4规定的BCI测试、国军标C,JB152A中规定的CS1Og、CS1I4、CS115、CS116测试。其中标准IEC61OO0-4-4规定的EFT/B和⒙011笱2-4规定的BCI测试是最典型的共模抗扰度测试。