引线电阻

   外壳的引线电阻测试一般规定按GJB3ωB―⒛09《电子及

   电气元件试验方法》中方法进行,使用电阻电桥法或其他适用的

测试仪器及测试方法进行。 K4B2G0846B-HCF7比较传统的方法是采用直流双臂电桥

法来测量引线电阻。

   直流双臂电桥又称凯尔文电桥,主要用于测量低值电阻。如图13叫所示,图中Rl、R2、R3、R。均为可调电阻,是被测低f电阻,Rs是低值标准电阻。

   当电桥平衡时,检流计中无电流通过,D和B两点电势相等,根据基尔霍夫第二定律列出方程组,解得调节可调电阻的阻值,使土=生,则上式化简为Rx 青凡,较易测得阻值。

   目前测引线电阻一般都选用数字多用表或低频电阻测试仪测量。精密的数字多用表可测量到10蔼Ω量级,可以足够精确测量引线电阻。

电阻率,L为引线材料的长度(mm),s为引线横截面积(mm2),从上式可以看出,要减小引线电阻必须减小引线长度,在允许范围内适当增加引线横截面,选用电阻率较小的引线材料和电镀材料。引线电阻是封装外壳所特有的金属化引线电阻,引线电阻的测试方法一般是四探针法,将欧姆表低端的两个探针尽可能靠近地置于外部引线的台肩上或外部引线的中央,将欧姆表高端的两根探针置于靠空腔端的引线末端0.1311m的范围内,将欧姆表调至合适的量程测得引线电阻值。