测试技术的发展趋势G3MB-202P-12V

   由于微波电路及其组件的特殊性,目前尚缺乏通用的测试系统,业界通常采用矢量网络分析仪、功率计等测试仪表搭建专用测试系统,同时根据产品特点设计测试夹具,开展参数测试。在实际测试中,测试仪表及测试夹具都会对测试结果造成一定的影响,需要对测试仪表进行计量校准,对夹具进行“去嵌入”,以获得准确的微波特性参数。测试不同类型微波器件时都需要重新设计测试夹具,有针对性地搭建测试系统并进行校准,耗费大量人力物力,同时时间周期也相对较长。

   为解决这一问题,射频微波测试技术不断往通用化方向发展。以测试夹具为例,成本低、可拆卸性强、重复性好、能够满足不同尺寸和抽头位置的微波通用测试夹具已逐渐在成为业界主流。如何改进夹具的设计、工艺和材料,提高其使用次数,同时有效消除测试过程中的自激振荡现象,是未来测试夹具研究的重点。微波测试仪表目前发展方向主要是宽带化、多参数化,即在尽可能宽的频段范围内通过单次连接完成多参数测试,以满足不同应用领域、不同类型产品的测试需求。现阶段主要利用多个测试通道来实现多参数羊发测试,如何减小测试通道切换对测试结果的影响以及相互通道间的信号干扰是现阶段关注的重点。