piND试验技术的发展趋势

   粒子碰撞噪声试验(PIND)目的之一是及时消除有粒子隐患的电子元器件,同时通过对失效样品的分析,G15N120RUF为产品质量改进提供有用信息。这项试验技术的发展趋势如下:

   1.粒子的提取技术

   由于粒子太小,所以,一般不宜采用解体方法,目前国内的粒子提取技术主要是采用手工的方法。即选择样品合适的一面,将其慢慢地锉薄,不锉通。然后将试样清洗干净,在清洁环境下用一根尖针将其锉薄处穿个小孔,并立即在该孔处用透明胶纸封住。此后再将样品放在振动台上进行振动,直至没有粒子信号再出现为止。另一种较为快捷的办法是使小孔口朝下,用手轻轻敲击样品的封壳,然后在显微镜下观察透明胶纸上有无粒子被黏牢。

    粒子被取出后,可在电子扫描镜显微中或其他质谱分析仪中进行成分分析。提取粒子是根据具体要求而定的,为了便于取出粒子,最好是选择粒子信号偏大的试样进行分析。但这种方法不能保证对粒子100%地提取,所以,未来可在这方面进行改进。

   2.通过观察信号或波形直观地得到内部粒子的信息

   通过技术的提高或监测电性能等方法,直观地观察信号或波形便可得到器件内部的粒子形态。如器件内部是否存在真实的粒子,或是由于器件本身的工艺导致的噪声信号产生等。若是真实粒子,那么粒子的大小、材料是什么等,可以直观地获取,减小试验的错判和漏判。