内引线与芯片在恒定加速度运动中受力状态与一根金属棒受力是不同的。

   (1)内引线是弯曲的,两端同定。横向受力与金属棒一端固定,另一端施加拉力(平行轴向)的情况是不同的。

LE88010BQC

   (2)进行试验的不是单一金属棒,而是不同金属间连接起来的复杂结构。由于恒定加速度应力级水平变化不是连续的,而是跃变的,试验采用的恒定加速度应力级水平,不可能正好接近于且稍大干器件所能承受的最大应力,即不可能正好取在促使器件失效时的临界状态所需要的能量水平,所以,表现出失效是瞬间的,也就测不到反映失效前的过渡状态的现象。如应力等级增大,而器件早就断裂失效了。同时前一个恒定加速度应力级水平,又与器件发生失效的能量水平相差较多而看不到失效。所以,在大多数情况看不到过渡状态。当器件失效所需的能量水平与恒定加速度应力水平相当时,就能看到前面所说的那种过渡状态。器件内部存在结构缺陷,其失效的能量水平,就比结构完美的器件失效要低得多。要达到筛选日的,就要选取最佳的筛选应力级水平。这个应力级水平,应该选在稍高于有缺陷器件的失效能量水平,而远离完好器件失效时所需的能量水平,这样才能达到无损筛选试验的日的。但有些“顽lAl”的缺陷,其失效所需的能量水平较高,在低的应力级水平下筛选不掉。采用高的应力级水平,虽然将这些有“顽固”缺陷的器件筛选下来,但这对完好器件也会产生不可忽视的损害,所以这样的筛选是不可取的。