对于那些比较复杂的器件,如集成电路,实际上起主导作用的失效机理往往是复杂的,甚至有些是事先无法预知的,如果用单一的加速变量来进行加速,其结果是不够全面的;同时,在失效机理不太明朗的情况下,采用加速外推的方法,其结果必然带来大的误差。也就是说,对于具有多种失效机理的产品,理想的加速寿命试验是难以实现的。

   加速寿命试验只考虑了试验的加速性方面,而没有考虑元器件的应用问题。实际上,用户把这类器件用在设备上,预期保存和运用时间很长。因此,对于元器件制造者和用户来说,在正常应力或使用应力下的长期寿命试验也是必须的和重要的,因为它能真实反映元器件在使用条件下的寿命特性。

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   加速寿命试验的基本假设是在高应力条件下的失效机理与在正常应力条件下的失效机理相同。此外试验数据分析需要选择或假定应力与寿命之间的函数关系。实际上,高应力可能会引入在正常条件下不会发生的新的失效模式,当有几种不同应力共同作用时,各种失效模式对应应力有不同的敏感性,以致各失效模式的发生概率会随应力的改变雨改变。也就是说,加速寿命试验的基本假设通常是很难保证的。、应力-寿命关系模型有潜在的多样性、复杂性。试验条件也是千变万化的。由加速寿命试验所估计的寿命与在现场观察到的寿命可能差别很大,有可能差别达到一个数量级甚至更大。因此,除非试验条件与现场使用条件很接近且试验数据的分析和建模恰当,否则从加速寿命试验数据外推所估计的可靠性只能看作是固有可靠性的一种近似,不应看作为现场可靠性指标。虽然存在局限性,但并不影响加速寿命试验的有用性。一般地,加速寿命试验可用来识别问题、对不同的设计方案以及获得元器件可靠性的粗略估计。