根据产品参数失效判据,选择合适精度的仪器进行测量
发布时间:2019/5/5 21:23:12 访问次数:1879
保证测量数据的准确性问题
(1)根据产品参数失效判据,选择合适精度的仪器进行测量
一般来说,参数测量时使用精度高的仪器比使用精度低的仪器好。但也不是选用的精度越高越好。一般而言,仪器的精度比失效判据标准高一个数量级就可以了。例如,元器件参数的失效判据标准为千分之五,则选用的仪表精度为万分之五;若参数的失效判据标准值较小(如只有干分之一),并且选用精度比参数失效判据标准高10倍的仪器有困难时,也要选用精度比元器件参数失效判据标准至少高5倍的仪器进行测量。
(2)严格执行仪器的定期校准和自校制度
仪器在每个测量周期之前都需经过检定/校准合格(并在检定校准合格的有效期内)方可使用。在测量过程中,如遇到参数异常,可用标准件对仪表进行校验,在证实仪表正常,测量数据可信后,再分析造成参数变化的原因。
(3)避免差错
差错一般是由于使用有故障的仪器而未发现,使用仪器的方法不正确,读错数字或记录错误等原因造成的。为了减少差错,应使用重复性好、抗干扰能力强的测量系统,并使测量、记录自动化。
(4)采用合理的测量引线、夹具
仪器测量用引线应尽可能短,以避免分布参数造成的影响。为提高测量的稳定性,必要时可以对测量端做屏蔽处理,测量夹具要既不损伤样品引线,又能保证接触良好。例如在测量电容器的损耗角正切值时,发现同一样品先后两次测得的损耗角正切值相差根大。究其原 因,发现测量夹具不符合要求,时紧时松,随引线接触位置的不同而不同。对于试验时间较长,引线表面氧化严重的样品,这种现象则更为明显。当引线与夹具接触太松时,接触损耗明显增加,使得损耗角正切显著增大;当引线与夹具接触紧密时,接触损耗减少,因而损耗角正切值读数恢复到正常值。
在进行微波小功率器件、微波功率器件的寿命试验时,如果老化台的加电引线较长,夹具分布参量较大,器件在加电时会产生频率较高的自激振荡。较轻微的自激会影响加电测量的准确性,较严重的自激则会烧毁器件。因此,对微波器件应在老化台、直流测试线路中采取抗自激措施。
(5)严格控制测量室的环境条件
元器件的测试应在规定的环境条件下进行。如果测量室温、湿度不在规定范围内,就会使元器件在各个周期测得的数据上下波动,测试结果无效。
保证测量数据的准确性问题
(1)根据产品参数失效判据,选择合适精度的仪器进行测量
一般来说,参数测量时使用精度高的仪器比使用精度低的仪器好。但也不是选用的精度越高越好。一般而言,仪器的精度比失效判据标准高一个数量级就可以了。例如,元器件参数的失效判据标准为千分之五,则选用的仪表精度为万分之五;若参数的失效判据标准值较小(如只有干分之一),并且选用精度比参数失效判据标准高10倍的仪器有困难时,也要选用精度比元器件参数失效判据标准至少高5倍的仪器进行测量。
(2)严格执行仪器的定期校准和自校制度
仪器在每个测量周期之前都需经过检定/校准合格(并在检定校准合格的有效期内)方可使用。在测量过程中,如遇到参数异常,可用标准件对仪表进行校验,在证实仪表正常,测量数据可信后,再分析造成参数变化的原因。
(3)避免差错
差错一般是由于使用有故障的仪器而未发现,使用仪器的方法不正确,读错数字或记录错误等原因造成的。为了减少差错,应使用重复性好、抗干扰能力强的测量系统,并使测量、记录自动化。
(4)采用合理的测量引线、夹具
仪器测量用引线应尽可能短,以避免分布参数造成的影响。为提高测量的稳定性,必要时可以对测量端做屏蔽处理,测量夹具要既不损伤样品引线,又能保证接触良好。例如在测量电容器的损耗角正切值时,发现同一样品先后两次测得的损耗角正切值相差根大。究其原 因,发现测量夹具不符合要求,时紧时松,随引线接触位置的不同而不同。对于试验时间较长,引线表面氧化严重的样品,这种现象则更为明显。当引线与夹具接触太松时,接触损耗明显增加,使得损耗角正切显著增大;当引线与夹具接触紧密时,接触损耗减少,因而损耗角正切值读数恢复到正常值。
在进行微波小功率器件、微波功率器件的寿命试验时,如果老化台的加电引线较长,夹具分布参量较大,器件在加电时会产生频率较高的自激振荡。较轻微的自激会影响加电测量的准确性,较严重的自激则会烧毁器件。因此,对微波器件应在老化台、直流测试线路中采取抗自激措施。
(5)严格控制测量室的环境条件
元器件的测试应在规定的环境条件下进行。如果测量室温、湿度不在规定范围内,就会使元器件在各个周期测得的数据上下波动,测试结果无效。