校准过程不可能涵盖传感器在使用过程中可能出现的所有情况,意识到这点是非常重要的。事实上,使用条件不可能完全与校准条件相一致。因此,校准条件下获得的精度不一定是传感器在实际应用中所需要的精度。首先,基于一个事实,校准过程不可能覆盖传感器应用于测量的所有使用范围,校准必定受限于有限数量的测量点。通常,在这些固定的点之间使用插值法是相对安仝准确的。然

而,如采用外推法则危险系数较高。

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    在应用过程中传感器的精度不同于在校准过程中的精度的第二个原因是在使用过程中的操作条件不一定和校准过程中相同。在理想情况下,传感器应该只对被测变量敏感,但在实际中,传感器也对其他量表现出某种程度的交叉灵敏度,例如工作温度、湿度、电源电压、机械应力、干扰等。这样的交叉灵敏度会影响传感器输出量值的精确度。

   最后,传感器在校准后的精度也会由于老化而降低。老化速率通常与使用频率、机械磨损、暴露在灰尘中、温度或湿度的变化等因素相关。但是即使传感器被保存在密封环境,老化仍会发生[1]。传感器制造商通常对传感器样品进行加速老化实验,来评估精确度的降低速率。这样的实验可能包括将一组传感器放置在大量温度循环系统中,或将它们长时间暴露在高温度或高湿度环境中。基于这些实验结果,传感器的技术规格说明书的精度增加了额外的预留量,连同传感器的有效期或者随着时间推移可预期的老化程度都被包含在精确度说明书中。无论如何,需要在使用一段时间后对传感器进行重新校准。