位置:51电子网 » 技术资料 » 汽车电子

试验应力类型的选择视试验目的而定

发布时间:2019/4/18 21:12:06 访问次数:1655

   K9GAG08U0D-PCBO

  

   试验应力类型的选择视试验目的而定。若要了解产品的储存寿命或工作寿命就必须施加一定的环境应力或电应力。这是因为产品的失效是由失效机理决定的,同一件产品往往同时存在着不同的失效机理,而失效机理是否发展和发展速度快慢,与外加应力有密切关系。对于寿命试验来说,受试产品的失效机理一定要与实际使用状态的失效机理相一致;否则,寿命试验所得数据没有实用价值。因此,要分析和研究在寿命试验中对失效机理的发展有促进作用的应力类型,也就是要选择对产品失效影响最显著或者最敏感的那些应力,而且这些应力所激发的失效机理应与实际使用状态的失效机理相同。因为这些应力比较充分地反映或者比较明显地影响产品的可靠性和寿命。

    在不过多地增加检查和测试工作量的情况下,应尽可能比较清楚地丁解 产品的失效分布情况,不要使产品失效过于集中在一两个测试周期内,一般要求有五个 以上的测试点(指能测到失效产品的测试点),每个测试点上测到的失效数应大致相同。 在确定具体产品的测试周期时,要对产品的失效情况或失效分布有所了解。这种了解可 以通过以往试验所积累的数据和资料来确定,也可以选取少量样品做快速寿命试验来获 得。对于试验应力大,失效进程快的产品,测试周期选短一些;对于试验应力小,失效 进程慢的产品,测试周期选长一些,可以在试验过程中逐步调整,如果希望在可靠性寿 命分布的坐标轴上大致等距地选择测试周期,这可F(t) 以借助坐标纸或概率纸来加以确定。


   此外,这些应力是容易控劁和测量的,否则,寿命试验难于按设计方案进行。对于电子元器件与材料使用状态所承受的和导致失效最主要的应力是温度应力和电应力,因此常选用这些应力进行寿命试验。它们可以是单一的应力,也可以是同时作用的两个或两个以上应力。

   为了能使最后的分析结果尽量精确,最好在整个寿命试验中,采用自动监测、连续测试的方法,以得到确切的失效时间。在没有自动记录失效设备的场合下,只能采用间歇测试的办法,即相隔一定的时间进行一次测试。其测试周期的选择将直接影响到品

可靠性指标的估计精度。测试周期的长短与产品的寿命分布、施加应力的大小有关。测试周期太短,会增加测试工作量;测试周期太长又会失掉一些有用的信息量。确定测试周期的原则是:

在试验过程中,要严格控制试验条件,保持试验条件的一致性,这是保证试验结果的 正确性所必需的。

  试验应力的水平也应视试验目的而定。一般来说,试验应力高,产品失效快,试验 时间短,但最高应力受限于产品本身的使用极限,通常应以不改变元器件在正常使用条 件下的失效机理为原则。如无特殊规定,试验应力水平应选择产品技术标准规定的额 定值。

   K9GAG08U0D-PCBO

  

   试验应力类型的选择视试验目的而定。若要了解产品的储存寿命或工作寿命就必须施加一定的环境应力或电应力。这是因为产品的失效是由失效机理决定的,同一件产品往往同时存在着不同的失效机理,而失效机理是否发展和发展速度快慢,与外加应力有密切关系。对于寿命试验来说,受试产品的失效机理一定要与实际使用状态的失效机理相一致;否则,寿命试验所得数据没有实用价值。因此,要分析和研究在寿命试验中对失效机理的发展有促进作用的应力类型,也就是要选择对产品失效影响最显著或者最敏感的那些应力,而且这些应力所激发的失效机理应与实际使用状态的失效机理相同。因为这些应力比较充分地反映或者比较明显地影响产品的可靠性和寿命。

    在不过多地增加检查和测试工作量的情况下,应尽可能比较清楚地丁解 产品的失效分布情况,不要使产品失效过于集中在一两个测试周期内,一般要求有五个 以上的测试点(指能测到失效产品的测试点),每个测试点上测到的失效数应大致相同。 在确定具体产品的测试周期时,要对产品的失效情况或失效分布有所了解。这种了解可 以通过以往试验所积累的数据和资料来确定,也可以选取少量样品做快速寿命试验来获 得。对于试验应力大,失效进程快的产品,测试周期选短一些;对于试验应力小,失效 进程慢的产品,测试周期选长一些,可以在试验过程中逐步调整,如果希望在可靠性寿 命分布的坐标轴上大致等距地选择测试周期,这可F(t) 以借助坐标纸或概率纸来加以确定。


   此外,这些应力是容易控劁和测量的,否则,寿命试验难于按设计方案进行。对于电子元器件与材料使用状态所承受的和导致失效最主要的应力是温度应力和电应力,因此常选用这些应力进行寿命试验。它们可以是单一的应力,也可以是同时作用的两个或两个以上应力。

   为了能使最后的分析结果尽量精确,最好在整个寿命试验中,采用自动监测、连续测试的方法,以得到确切的失效时间。在没有自动记录失效设备的场合下,只能采用间歇测试的办法,即相隔一定的时间进行一次测试。其测试周期的选择将直接影响到品

可靠性指标的估计精度。测试周期的长短与产品的寿命分布、施加应力的大小有关。测试周期太短,会增加测试工作量;测试周期太长又会失掉一些有用的信息量。确定测试周期的原则是:

在试验过程中,要严格控制试验条件,保持试验条件的一致性,这是保证试验结果的 正确性所必需的。

  试验应力的水平也应视试验目的而定。一般来说,试验应力高,产品失效快,试验 时间短,但最高应力受限于产品本身的使用极限,通常应以不改变元器件在正常使用条 件下的失效机理为原则。如无特殊规定,试验应力水平应选择产品技术标准规定的额 定值。

相关IC型号
K9GAG08U0D-PCBO
暂无最新型号

热门点击

 

推荐技术资料

频谱仪的解调功能
    现代频谱仪在跟踪源模式下也可以使用Maker和△Mak... [详细]
版权所有:51dzw.COM
深圳服务热线:13692101218  13751165337
粤ICP备09112631号-6(miitbeian.gov.cn)
公网安备44030402000607
深圳市碧威特网络技术有限公司
付款方式


 复制成功!