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EFT/B抗扰度测试问题原理

发布时间:2019/1/3 21:29:40 访问次数:2351

   由此可以发现一个很重要的EMC设计问题,即主机和扩展模块之间互连电缆采用图3.61所示的扁平电缆。 NG80386SX-40图3.61所示的是辐射发射产生原理图,图3.6所示的是EFT/B抗扰度测试问题原理图。从图3。C~s中可以看到,辐射发射问题是由于PCB1中的工作地与PCB2中的工作地互连线阻抗孔记较大,长度约为10cm。长度约为IO cm的普通电缆,其寄生电感约为150nH(假设导线直径为0。b~s mm,在177MHz的频率下,它的阻抗约为100Ω;在30MHz的频率下,它的阻抗约为I5Ω),在高频时,该寄生电感是该连接线缆阻抗的主导因素。因此当互连信号的回流流过此地信号电缆时,将产生Δσ=LdJ/clr|的压降,这是一个典型的电流驱动模式的共模辐射发射。

      

    由图3.b~s可以明显地看到,由于该产品的接地点在主机的左侧,则当在扩展的I/O电缆上注人EFT/B共模干扰时,共模电流必将通过主机和扩展的部分最终流向地:由于主机中PCB1上的I作地与扩展中的PCB2互连线阻抗Zgild较大,长度约为10cm,当注人到扩展I/0电缆上的共模干扰电流流过时产生压降Δ〃=|Ldr/dr|,当Δy超过器件的噪声承受能力时,就产生干扰。(由公式Δ〃=|乙dJ/dr|可知,即使是1A的EFT/B瞬态共模电流流过,其Δσ=Ld〃dr|=150nH×1凡/5ns=30Ⅴ。)

    


   由此可以发现一个很重要的EMC设计问题,即主机和扩展模块之间互连电缆采用图3.61所示的扁平电缆。 NG80386SX-40图3.61所示的是辐射发射产生原理图,图3.6所示的是EFT/B抗扰度测试问题原理图。从图3。C~s中可以看到,辐射发射问题是由于PCB1中的工作地与PCB2中的工作地互连线阻抗孔记较大,长度约为10cm。长度约为IO cm的普通电缆,其寄生电感约为150nH(假设导线直径为0。b~s mm,在177MHz的频率下,它的阻抗约为100Ω;在30MHz的频率下,它的阻抗约为I5Ω),在高频时,该寄生电感是该连接线缆阻抗的主导因素。因此当互连信号的回流流过此地信号电缆时,将产生Δσ=LdJ/clr|的压降,这是一个典型的电流驱动模式的共模辐射发射。

      

    由图3.b~s可以明显地看到,由于该产品的接地点在主机的左侧,则当在扩展的I/O电缆上注人EFT/B共模干扰时,共模电流必将通过主机和扩展的部分最终流向地:由于主机中PCB1上的I作地与扩展中的PCB2互连线阻抗Zgild较大,长度约为10cm,当注人到扩展I/0电缆上的共模干扰电流流过时产生压降Δ〃=|Ldr/dr|,当Δy超过器件的噪声承受能力时,就产生干扰。(由公式Δ〃=|乙dJ/dr|可知,即使是1A的EFT/B瞬态共模电流流过,其Δσ=Ld〃dr|=150nH×1凡/5ns=30Ⅴ。)

    


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1-3EFT/B抗扰度测试问题原理

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