原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)是扫描探针显微镜(Scanning ProbcMicros∞pe,SPM)的一种,它利用非常细小的探针,非常缓慢地在材料表面移动,SA1117BH-3.3V以接触或非接触的方式,根据探针和材料表面的相互作用,来探知材料表面的细微结构,如原子的规则排列、表面形貌(topography)等。

   仪器结构

   原子力显微镜主要的构成组件有探针、探针定位与扫描装置、作用力检测部分、反馈控制单元等。

    探针

   探针可能经常与样品表面接触,为避免针尖弯折或断裂,探针材料需选择较硬的金属,钨丝是最常用的材料。钨丝经过电化学腐蚀,形成尖端半径为数十纳米的探针,再经由聚焦 离子束切削加工后,可获得尖端半径更小的探针。探针的尖端大小和探针形状直接影响AFM的平面分辨率,通常,探针越尖,图像的平面分辨率越高。