光波传播介质折射率和光程长度的变化都将导致相千光相位的变化， T6A39FG从而引起干涉条纹强度的改变。干涉测量中就是利用这一性质改变光载波的特征参量，以形成各种光学信息的。能够引起光程差发生变化的参量有很多，如几何距离、位移、角度、速度、温度引起的热膨胀等，这些参量都会引起光波传播距离的改变；介质的成分、密度、环境温度、气压以及介质周围的电场、磁场等能引起折射率的变化；从物体表面反射光波的波面分布可以确定物体的形状。因此，光学干涉技术可以用于检测非光学参量，是一种非常有效的检测手段。

   相位调制通常是利用不同形式的干涉仪，借助机械的、光学的、电子学的变换器件，将被测量的变化转换为光路长度三和折射率刀的变化，用于检测几何和机械运动参量，分析物质的理化特性。

   同频相干信号的检测方法

   在相位调制检测系统中，被测参量一般通过改变干涉仪中传输光的光程而引起对光的相位调制，由干涉仪解调出来的信息是一幅干涉图样，它以干涉条纹的变化反映被测参量的信息。干涉条纹由干涉场上光程差相同的场点的轨迹形成。干涉条纹的形状、间隔、颜色及位置的变化，均与光程的变化有关，因此，根据干涉条纹上述诸因素的变化，可以进行长度、角度、平面度、折射率，气体或液体含量、光学元件面形、光学系统像差、光学材料内部缺陷等各种与光程有确定关系的几何量和物理量的测量。因此，如何检测干涉条纹就变得十分有意义。干涉条纹检测实际是检测干涉条纹的光强度分布或其随时间的变化。基本的条纹检测法包括条纹光强检测法、条纹比较法和条纹跟踪法。