①由于淘测试必须在过渡状态结束后进行,输入测试向量的上升/下降延迟时间rr和rf都会影响r阳测试的速度;VEJ470M1V0606-TR0

    ②马m电流激增只出现在特定的测试向量;

   ③复杂电路中可能有大量的翻转动作持续进行,这就意味着全局的静态状态很少。与此相关的一些参数和其典型值有:

   ・平均门翻转时间

   ・正常门平均静态电流

   ・短路电阻典型值为100Ω~20kΩ;

   ・IrIkl测试要求电流灵敏度为1~50mA;

    测试的取样频率为10~100kHz。

    测试方案有以下三种。

    (1)每向量测试一次

    在每个测试向量后停顿,进行rmn测试。这将非常耗时,对有200000个测试向量的测试图形,若包含rmn测试的每向量测试时间为100灬,贝刂完成整个测试需要20s。

    (2)对测试图形有选择地进行rmn测试

   通常是随机地选择测试图形中的某些向量进行测试。统计证明,对完整ATPG测试的1%进行JI lx测试,即可达到同每向量测试一次相同的短路失效覆盖率。

    (3)增补测试图形

    专为试设计一套测试图形,与其他测试内容分开单独进行,每向量测试一次。基于短路失效模型,分析每一条VrD到地的可能存在的通路,由此产生的测试图形最为有效。进行Il η测试的方法有两种:片外测试和芯片内监控。后者也称为内建电流测试(BtIlld亠nCurrent TⅡt,BIC T∞t)。由于VI'SI中的绝大部分都采用CMOS工艺,Fr,L,Q测试对纯数字及数模混合电路测试都是一种有效的手段。