IC的可靠性包含了许多方面,从设汁、I艺到封装、测试,也就是说一个￡产品从开发到最后出厂,VEJ101M1V0810-TR0每个环节都涉及它的可靠性。￡的生产流程常常有 巢几十步甚至上百步,其中的每一步都可能是导致最后失效的原因,这就需要精确细致地进行失效分析。通常￡产品的寿命为10年,产品可靠性要求保证其中的元件在这个时间范围内性能可靠。

    以加速应力试验对新器件进行人为“老化”,得到的失效率随时问的变化曲线如图1413所示,称为“浴盆”曲线。早期失效反映的是由于缺陷等引起的器件 性能退化,在可靠性测试中应予以剔除。其后的两部分随机失效和耗损,反映的是器件的本征退化,表征器件平均有效寿命。

    产品可靠性有三个主要元素:设计可靠性、工艺可靠性和组装可靠性。若这三者都能达到产品寿命的要求,产品的可靠性就可以得到保证。对应于产品从开发到交付用户使用的各个阶段,可靠性测试也有不同的日的:①研制阶段,使产品达到预定的可靠性指标;②生产过程中,不断监控以提高产品质量; ③制定合理I艺筛选条件;①对产品进行可靠性鉴定或验收.