PSD的应用与CCD相似， ICR18650-26F但在位置检测方面有自身的优点。这些优点主要是：响应速度快，因不用扫描，响应速度只有几微秒至几十微秒；分辨力高，且可连续采样，不受像元尺寸的限制；位置检测输出与光强度、光斑尺寸无关，只与光斑重心有关，因而不需复杂的光学聚焦系统；可同时进行位置与强度的检测；信号检出方便等。

   CCD光斑中心定位

   CCD器件在结构上都是由一个个像元组成，由于原理与制造上的限制，为了防止相邻像元在转移脉冲驱动下引起串扰，同时要保证CCD像元具有足够大的感光面积，CCD的像元感光面积以及像元与像元之间的距离都不能做的很小，一般为微米量级。对于高精度的测量，提高CCD测量系统的精度难以提高CCD本身的精度。利用图像处理算法来实现CCD亚像元技术正是针对CCD的这一瓶颈而提出的。

   在光学测量系统中经常将激光作为基准，激光光斑的中心代表了光线在空间的位置，所以激光光斑中心的检测决定了测量的精度。传统的光斑中心检测算法有重心法、中值法及Hough变换法。为了提高光斑中心的定位精度，目前大量引入了亚像素的定位方

法，通过选用合适的数据处理方法可使定位精度小于像素级度。

   激光光斑中心定位需要首先确定激先光斑的边缘位置，然后再计算出光斑中心位置。光斑边缘检测可以采用很多种边缘检测方法，如Roberts梯度算子、Sobel梯度算子、LOG算子、Canny算子（像素级定位）、八邻域方法（像素级定位）以及矩方法（亚像素定位）等边缘检测方法对光斑边缘进行提取；再对光斑中心进行亚像素精确定位，可以用重心法、曲线拟合法等。