位置:51电子网 » 技术资料 » 仪器仪表

栅形成

发布时间:2016/6/18 20:49:07 访问次数:643

    N、P阱制作完成后,接着去除氧化层并对硅片进行清洗,然后在800℃下热生长栅氧化层。 OP220GS-REEL7再沉积多晶硅作为栅极,如图4.7所示。

   图4.7 栅氧生长及多晶硅沉积

  

   栅极多晶硅沉积完成后采用绀光刻版进行栅极光刻,采用干法腐蚀将不需要的多晶硅腐蚀掉,最终形成器件的栅极及多晶互连,如图48所示。



   

    N、P阱制作完成后,接着去除氧化层并对硅片进行清洗,然后在800℃下热生长栅氧化层。 OP220GS-REEL7再沉积多晶硅作为栅极,如图4.7所示。

   图4.7 栅氧生长及多晶硅沉积

  

   栅极多晶硅沉积完成后采用绀光刻版进行栅极光刻,采用干法腐蚀将不需要的多晶硅腐蚀掉,最终形成器件的栅极及多晶互连,如图48所示。



   

上一篇:N、P阱的形成

上一篇:轻掺杂源漏(LDD)

相关技术资料
6-18栅形成

热门点击

 

推荐技术资料

驱动板的原理分析
    先来看看原理图。图8所示为底板及其驱动示意图,FM08... [详细]
版权所有:51dzw.COM
深圳服务热线:13692101218  13751165337
粤ICP备09112631号-6(miitbeian.gov.cn)
公网安备44030402000607
深圳市碧威特网络技术有限公司
付款方式


 复制成功!