扫描分析时，采用类ACT-F512K32N-070P7Q似于多重循环的方式和顺序，对扫描变量取值的每一种组合均进行一次电路特性分析。例如，设扫描变量是r3、rl和c6这三个元器件的组合，若最外层变量r3的两个取值为(r3)1和(r3)2，innerl层变量r1的两个取值为(rl)l和(rl)2，最内层inner2变量c6的三个取值为(c6)l、(c6)2和(c6)3，扫描分析时，首先将最外层变量r3固定取值为(r3)1，innerl层变量rl的取值固定为(rl)l，最内层inner2变量c6分别取值为(c6)l、(c6)2和(c6)3，构成三个组合，分别进行三次电路特性分析。然后最外层变量r3仍然固定取值为(r3)l，将innerl层变量rl昀取值改为(rl)2，再将最内层inner2变量c6分别取值为(c6)l、(c6)2和(c6)3，又构成三个组合，分别进行三次电路特性分析。在innerl层变量rl已取完所有取值后，最外层变量r3改取下一个可能取值，重复上述过程。因此，整个扫描分析过程中进行电路特性模拟分析的次数等于各个扫描变量可能取值的个数的乘积。例如，对于上述实例，最外层变量r3的取值为两个，innerl层变量rl的取值为两个，最内层inner2变量c6的取值是三个，因此扫描分析过程一个包括12次电路特性模拟分析。

   提示：系统对多重扫描分析中允许的模拟分析总次数上限有所制约，默认规定是不超过1000次。若参数扫描类型和扫描取值的设置结果导致的模拟分析总次数超过允许值，将出现错误信息提示。如果用户需要提升允许的模拟次数上限，可以选择执行Edit—ProfileSettlings命令，屏幕上出现图6-87所示设置框。用户直接在Parametric Plot标签页的Set Maximum Number ofParametric Sweeps文本框中键入代表模拟次数上限的数字即可。若单击Reset按钮，则恢复采用默认设置值1000.