汇总了上述分析过程及分析结果
发布时间:2016/3/2 22:04:28 访问次数:540
使每个元器件均向“最坏方向”按其最大可能范围(即设置的容差值)变化,进行一B37930-K5060-C860次电路分析,得到最坏情况分析结果。
以差分对电路为例,RC1的最坏变化方向是增大,RC2的最坏变化方向是减小,这两个电阻的容差值为5%,因此,只要将RC1增大5%,将RC2减小5%,就组成了最坏情况。此时的模拟结果是Max(V(out2》等于96.249,这就是在考虑电阻RC1和RC2阻值存在5%容差的情况下,差分对电路的最坏情况输出电压。
表4-1汇总了上述分析过程及分析结果。
表4-1 差分对电路WC分析过程与结果
由上述分析过程可见,完成最坏情况分析需要进行的模拟仿真次数等于需要考虑其容差影响的元器件参数个数加2。对羞分对电路,考虑其容差影响的元器件参数有两个,即电阻RC1和RC2的阻值,因此WC分析全过程共包括4次AC模拟分析。第一次为标称值分析。第二、第三次分别对RC1和RC2进行灵敏度分析。最后一次为最坏情况分析。
使每个元器件均向“最坏方向”按其最大可能范围(即设置的容差值)变化,进行一B37930-K5060-C860次电路分析,得到最坏情况分析结果。
以差分对电路为例,RC1的最坏变化方向是增大,RC2的最坏变化方向是减小,这两个电阻的容差值为5%,因此,只要将RC1增大5%,将RC2减小5%,就组成了最坏情况。此时的模拟结果是Max(V(out2》等于96.249,这就是在考虑电阻RC1和RC2阻值存在5%容差的情况下,差分对电路的最坏情况输出电压。
表4-1汇总了上述分析过程及分析结果。
表4-1 差分对电路WC分析过程与结果
由上述分析过程可见,完成最坏情况分析需要进行的模拟仿真次数等于需要考虑其容差影响的元器件参数个数加2。对羞分对电路,考虑其容差影响的元器件参数有两个,即电阻RC1和RC2的阻值,因此WC分析全过程共包括4次AC模拟分析。第一次为标称值分析。第二、第三次分别对RC1和RC2进行灵敏度分析。最后一次为最坏情况分析。
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