在参数分析的基础上还可以进行电路测量性能的分析，定量地分析电路特性函数随某一个元器件参数的变化情况，BQ2040对电路的优化设计也有很大的帮助。步骤是：

   (1)在参数分析结束后，在Probe窗口下选择Trace/Performance Analysis命令或者单击溅按钮。选择菜单会出现如图4.3.20所示的对话框，表示对测量性能分析注释说明。单击“确定”按钮后会在图4.3.19的基础上多出一个窗口。

    (2)选择菜单栏Trace/Add Trace，或者单击溉图标，然后在“Functions and Macros”和“Simulation Output variables”中选择使得“Trace Expression”中显示Max(DB(V(Vout)/V(Q1：b)))，单击“确定”按钮后，就可以得到如图4.3.21所示的结果。

   另外也可以通过另外一种屏幕引导的方式得到：屏幕提示的操作方式分步骤进行电路测量性能分析，4.3.6  温度分析(Temperature (Sweep》在图4.3.20中单击-lzad按钮，就可以按照得到的结果与图4.3.21是一样的。