每个像素点对应的P、S分量的灰度值不同，但KDT-6315A旋光角度值大致相等，这与在激励线圈内部的磁场分布原理一致，说明测量方法可行。再取某一像素对应位置在不同电压下的磁致旋光角度列表，如表12 -5所示。

  表12 -5  某一像素对应位置在不同电压下的磁致旋光角度

   由表12 -5可知，电压与旋光角度线性良好，电压与磁场大小成正比，则得到旋光角度分布即可得到磁场的分布，这证明了本文方法是可以应用于磁光成像测量中的。~12.4.7结论

   介绍一种基于偏振分束成像的旋光角度分布测量系统设计问题，根据推导的测量模型，设计和构建了测量系统，并以标准1/2波片为研究对象，进行验证实验。实验结果表明，与传统的偏振正交消光法相比，该方法能有效消除光强度波动的影响，误差降低约3倍，且稳定性较好。将此方法应用于磁光成像中能精确测量磁场影响的旋光角度变化量，从而可以根据旋光角度变化量反向计算出磁场大小。基于偏振分束的磁光成像技术将在无损检测领域有广阔的应用前景和校大的应用价值。