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基于偏振分束的磁光成像测量实验

发布时间:2015/5/17 17:18:13 访问次数:493

   为了检验该方法的在磁光成像中的实用性,进行了KD-LS2123N基于偏振分束的磁光成像测量应用实验研究。

 磁光成像本质上是通过成像测量磁场引起的旋光角度变化量,本文将偏振分束成像应用到测量法拉第磁致旋光中,设计和构建的测量实验系统如图12 - 32所示。

   实验系统中的法拉第磁光调制器是由电源、通电螺线管和磁光玻璃(置入在螺线管中)组成。

     

   实验过程中,分别在螺线管两端电压为OV、5V、10V、15V、20V下,拍摄的两CCD成像图片,如图12 - 33所示。

   图12 -33中,(a)、(f)对应的是在电压为OV时两CCD上所成的一组像;(b)、(g)对应的是在电压为SV时两CCD上所成的一组像;(c)、(h)对应的是在电压为10V时两CCD上所成的一组像;(d)、(i)对应的是在电压为15V时两CCD上所成的一组像;(e)、(j)对应的是在电压为20V时两CCD上所成的一组像。

   对以上图像进行上一节对应的数据处理,得到不同电压下的旋光角度。取5V咆压时任意5个像素对应的两CCD成像灰度值及旋光角度值列表,如表12 -4所示。

   为了检验该方法的在磁光成像中的实用性,进行了KD-LS2123N基于偏振分束的磁光成像测量应用实验研究。

 磁光成像本质上是通过成像测量磁场引起的旋光角度变化量,本文将偏振分束成像应用到测量法拉第磁致旋光中,设计和构建的测量实验系统如图12 - 32所示。

   实验系统中的法拉第磁光调制器是由电源、通电螺线管和磁光玻璃(置入在螺线管中)组成。

     

   实验过程中,分别在螺线管两端电压为OV、5V、10V、15V、20V下,拍摄的两CCD成像图片,如图12 - 33所示。

   图12 -33中,(a)、(f)对应的是在电压为OV时两CCD上所成的一组像;(b)、(g)对应的是在电压为SV时两CCD上所成的一组像;(c)、(h)对应的是在电压为10V时两CCD上所成的一组像;(d)、(i)对应的是在电压为15V时两CCD上所成的一组像;(e)、(j)对应的是在电压为20V时两CCD上所成的一组像。

   对以上图像进行上一节对应的数据处理,得到不同电压下的旋光角度。取5V咆压时任意5个像素对应的两CCD成像灰度值及旋光角度值列表,如表12 -4所示。

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