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频率检测

发布时间:2015/5/9 21:48:13 访问次数:483

   测得多普勒频移量(VD=∥:-VO),即可求AD587JN出物体运动的速度秽。但由于光的频率太高,目前尚无检测器能直接测量它的变化,因此要采用间接的光混频技术来测量,即将两束频率不同的光混频,获取差频信号的光学零差和外差法。

   设一束散射光与另一束参考光的频率分别为,它们到达光电检测器表面的电扬强度分别为

   E1 2Eoi cos(2可ys1‘+cPi)    (2 - 67)

   E2 2 E02 cos(2TTVs2 t+c;P2)

   式中,Eoi、E02为两束光在光电检测器表面处的振幅;9l、92为两束光的初始相位。

   两束光在光电检测器表面混频,其合成的电场强度为

   E= Ei +E2= E01 cos(21T∥.1t+Pi) +E02 cos(27TVs2 t+cP2)    (2-68)光强度与光的电场强度的平方成正比,则/cc酽,即

   ,(f)= K(E1+E2)2=乏Ⅸ(E2 +E22)+KEoi E02 cos[2耵(Vsl -l)s2)t+咖] ,K为常数;西为两束光初始相位差。式中第一项是直流分量,可用电容隔去;第二项是交流分量,其中(Vsl一∥。2)正是我们希望测得的多普勒频移。

   按照两束入射光到达物体前两者间是否有频差,光波频率检测分为零差法和外差法。若入射至物体前,两束光频率相同,即频差为零则称为零差法。这时,当物体运动速度为零时,y。2=y。2=∥o,由式(2- 69)可知输出信号为直流。

   测得多普勒频移量(VD=∥:-VO),即可求AD587JN出物体运动的速度秽。但由于光的频率太高,目前尚无检测器能直接测量它的变化,因此要采用间接的光混频技术来测量,即将两束频率不同的光混频,获取差频信号的光学零差和外差法。

   设一束散射光与另一束参考光的频率分别为,它们到达光电检测器表面的电扬强度分别为

   E1 2Eoi cos(2可ys1‘+cPi)    (2 - 67)

   E2 2 E02 cos(2TTVs2 t+c;P2)

   式中,Eoi、E02为两束光在光电检测器表面处的振幅;9l、92为两束光的初始相位。

   两束光在光电检测器表面混频,其合成的电场强度为

   E= Ei +E2= E01 cos(21T∥.1t+Pi) +E02 cos(27TVs2 t+cP2)    (2-68)光强度与光的电场强度的平方成正比,则/cc酽,即

   ,(f)= K(E1+E2)2=乏Ⅸ(E2 +E22)+KEoi E02 cos[2耵(Vsl -l)s2)t+咖] ,K为常数;西为两束光初始相位差。式中第一项是直流分量,可用电容隔去;第二项是交流分量,其中(Vsl一∥。2)正是我们希望测得的多普勒频移。

   按照两束入射光到达物体前两者间是否有频差,光波频率检测分为零差法和外差法。若入射至物体前,两束光频率相同,即频差为零则称为零差法。这时,当物体运动速度为零时,y。2=y。2=∥o,由式(2- 69)可知输出信号为直流。

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5-9频率检测

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