如图2 -22所示， ADM202EARNZ由光电检测器3探测待测物体1所辐射出的功率、光谱分布等参数，以确定待测物体的存在，根据所处方位以及其光谱的分布情况来分析它的物质成分及性质，如报火警、侦察、跟踪、武器制导、地形地貌普查分析、光谱分析及太阳能利用等。下面以全辐射测温为例说明这种方式的应用情沉。

   由斯忒藩一玻耳兹曼( Stefan - Boltzman)定律可知，物件的全辐射出射度s为比辐射率，对于某一物体，其为常数；盯为斯忒藩一波尔兹曼常数；丁为绝对温度。在近距离测量时，可不考虑大气对辐射的吸收作用，则光电检测器输出的电压信号Vs =M。f，f为光电变换系数，将式(2 - 34)代人上式得 式(2 -35)表明，光电检测器输出的电压信号vs是温度r的函数，与温度丁的四次方成正比。因此，可以通过测量输出电压vs来测量辐射体的温度。

   如图2 -23所示，由待测物体2把光反射到光电检测器上。如果是镜面反射，则光按一定方向反射，它往往被用来判断光信号的有无，可用于光电准直、电机等转动物体的转速测量等。如果是漫反射，则一束平行光照射到某一表面上时，光向各个方向反射出去。因此在漫反射某一位置上的光电检测器只能接收到部分反射光，接收到的光通量的大小与产生漫反射表面材料的性质、表面粗糙度以及表面缺陷等因素有关。因而，采用这种方式可检测物体的外观质量。在产品外观质量检测时，光电检测器输出信号可表示为

    Vs=Ev(r2-rl )Sg    (2-36)

    式中，Ev是被检测表面的光照度；占是光电变换系数；r2是无缺陷表面的反射率；ri是缺陷表面的反射率；S是光电检测器有效视场内缺陷所占面积。

   由式(2 -36)可知，当Ey、r2和s为确定值时，vs仅与ri和Is有关，而缺陷表面反射率ri与缺陷的性质有关。所以，从Vs值的大小可以判断出缺陷的大小和面积。另外，激光测距、激光刷导、主动式夜视、电视摄像、文字判读等方面的应用均属于这种方式。