- 使用低价位仪器测试高速时钟2007/8/23 0:00:00 2007/8/23 0:00:00
- 当你需要测量高速时钟频率时，可能选择价位昂贵的台面仪器。而实际上，使用低价位数字测试仪器的数字捕获能力，再加上一些DSP软件函数即可测试高速时钟。下文介绍了具体的实现办法。 奈奎斯...[全文]
- 使用泰克数字荧光示波器测试晶体管饱和压降2007/8/24 0:00:00 2007/8/24 0:00:00
- 电子镇流器的设计人员对半桥驱动晶体管的交越失真非常关注，交越失真的优化与否直接影响了两半桥驱动晶体管是否能安全可靠地工作。显然，半桥驱动晶体管的饱和压降Vcesat 对交越功率影响...[全文]
- ATE开放式体系结构的硬件基础2007/8/28 0:00:00 2007/8/28 0:00:00
- 开放式体系结构的概念在2002年的夏季已经是公开的秘密。鉴于降低测试成本的前景，媒体和ATE用户对它产生了极大的兴趣，也引起ATE供应商们极大的关注。毫无疑问，一个设计良好的开放式...[全文]
- 测量CDMA接收机的阻塞2007/8/28 0:00:00 2007/8/28 0:00:00
- 需求 CDMA无线系统与老式的AMPS工作在同一频段。AMPS射频方案把频率划分成很多相邻的窄带FM信道，而CDMA射频方案则占用少量的宽带射频信道。这样，CDMA信道规划不得不...[全文]
- 信息时代的传感器技术2007/8/23 0:00:00 2007/8/23 0:00:00
- 现实世界的信息是通过传感器获得的，与人们的生活息息相关。传感器已大举进入工业自动化、汽车工业、航天、生物、医学应用领域，且在无线通信、消费品领域亦有广泛的发展空间。传感器种类繁多，...[全文]
- 电源模块虚拟测试系统2007/8/24 0:00:00 2007/8/24 0:00:00
- 概述 近几年来，随着国内企业对电源产品多样性和复杂性的要求的加大，电源产品的性能和指标如何科学而快速地检测成了一大难题。原来的手动测量方式已不能满足生产厂家和用户的要求，测试自动化...[全文]
- 基于LXI的仪器实现物理测量的优点2007/8/28 0:00:00 2007/8/28 0:00:00
- 像温度、应力、压力和流量等物理测量广泛应用在工业和控制等领域中，这些物理测量的实现常常需要面对测量准确性、测量位置分散、测量的连线等诸多问题。基于LXI标准的新仪器允许测试设备放置...[全文]
- 基于光信号同步的相位测量方法2007/8/24 0:00:00 2007/8/24 0:00:00
- 引言在电力继电保护系统中，相位测量是一个经常性项目，从传统的“过零”法测量的情况看，要测量两个交流信号的相位角，通常的做法是将两个交流信号进行放大、整形，成为在过零点变化的方波，同...[全文]
- 信源/器件测试仪实现更快速及更智能化2007/8/24 0:00:00 2007/8/24 0:00:00
- 由Keithley公司提供的SourceMeter 2600系列测试仪，旨在降低硅芯片与化合物半导体等电子器件厂家的测试成本。据该公司称，该系列测试仪将具有行业最高吞吐量的信源－测...[全文]
- 在虚拟环境下进行装配作业自动化研究2007/8/24 0:00:00 2007/8/24 0:00:00
- 0、引言 虚拟现实（Virtual Reality，以下略VR），就是由计算机直接把视觉、听觉、触觉等多种合成信息提示给人的感觉器官，在人的周围生成一个虚拟环境，从而把人、现实世界...[全文]
- DVB—C数字电视的测试2007/8/28 0:00:00 2007/8/28 0:00:00
- 1引言我国播放数字电视的进程已出台，广电部要求沿海发达地区2005年开通数字电视，2015年全国开通数字电视，停播模拟电视。近年来不少城市都已开始试播，各广电局、广电网络传输中心、...[全文]
- DPO为设计与排错问题提供更多信息2007/8/24 0:00:00 2007/8/24 0:00:00
- DPO能够提供非常优秀的测量和分析吞吐量，同时收集到更多有用的频繁变化信息。本文将讨论DPO的架构和操作，并通过一些实际应用例子具体地说明DPO波形数据捕获功能所带来的好处。 &n...[全文]
- 使用USB进行测量应用的优势和潜在危险2007/8/28 0:00:00 2007/8/28 0:00:00
- 引言：USB用于测试与测量应用的优势很多，但是在选择USB数据采集模块之前，仔细考虑目标应用。如果瞬时电压或地电位差存在，通过选择带隔离措施的USB数据采集模块可保护PC并保持信号...[全文]
- 在电路测试阶段使用无铅PCB表面处理工艺的研究和建议2007/8/23 0:00:00 2007/8/23 0:00:00
- 引言：无铅PCB的出现对在电路测试(ICT)提出了新的问题，本文描述了现有的PCB表面处理工艺，并分析了这些工艺对ICT的影响，指出影响ICT的关键是探针与测试点间的接触可靠性，并...[全文]
- 借助PAT测试实现半导体器件的零缺陷制造2007/8/28 0:00:00 2007/8/28 0:00:00
- 业界对于半导体器件零缺陷需求的呼声日益高涨，为此半导体制造商开始加大投资应对挑战，以满足汽车用户的需求。随着汽车中电子元器件数量的不断增加，必须严格控制现代汽车中半导体器件的质量以...[全文]
- 基于3D数模的三坐标测量机曲面检测2007/8/24 0:00:00 2007/8/24 0:00:00
- 1．引言 从60年代初发明到现在，三坐标测量机（CMM）在制造业得到世界范围广泛应用，成为3D检测工业标准设备。三坐标测量技术得到迅速发展，而配...[全文]
- 混合信号芯片设计中的温度分析2007/8/23 0:00:00 2007/8/23 0:00:00
- 本文描述了一种直接集成到芯片设计流程中的详细三维温度分析，介绍了这种温度分析如何帮助芯片设计师和架构师更好地掌握芯片内的温度梯度，以及温度梯度影...[全文]
- 测试行业的标准—PXI2007/8/23 0:00:00 2007/8/23 0:00:00
- 在20世纪90年代后期，测试及测量工程师一般只有两种测试专用平台可以选择－VXI和GPIB。VXI虽然实现了平台的模块化，但是价格昂贵、使用复杂，并且无法利用主流计算机的技术实现更...[全文]
- 虚拟仪器技术已成为测试行业的主流技术2007/8/24 0:00:00 2007/8/24 0:00:00
- 如今在测试应用中使用虚拟仪器技术已成为主流。 绝大多数测试行业已接受虚拟仪器技术的概念，或者倾向于采用虚拟仪器技术。例如，具有代表性的美国军方虽然不是技术趋势的领导者，但也在广泛地...[全文]
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