1)外形与特点
    数字lC测试仪是采用单片机技术的一8N60种便携式仪器，外形如图2-18所示。其功能特点如下（以LT - 80C通用数字lC测试仪为例介绍）：数字按键
     图2-18数字IC测试仪外形

          
    (1)能够准确、迅速地测量rITL74/54、CMOS40/45系列数字集成电路的好坏，自动识别不知名的集成电路并显示其型号。
    (2)仪器体积小、重量轻、携带使用方便，外壳采用工程塑料，与一般数字万用表大小相当，3位大液晶数字显示清晰，并有蜂鸣器作为操作的提示声音。
    (3)由一个9V叠层电池供电，并设一个外接电源插孔，其静态电流只有十几毫安。面板上有电源开关、一个20脚测试座、四个操作按钮，外观简洁美观。
    (4)测量范围：TTL74/54系列（包括74 -、74S -、74LS -、74ALS -、74AC -、74ACT -、74HC -、74HCT -、74F -、74FHC -，以及与上述型号相对应的54系列产品）、CMOS40 -系列、CMOS45 -系列。
    2)基本操作方法
    (1)接通电源，将待测IC芯片的①脚对准集成电路插座上的①脚恒定位置，再插入插座并锁紧。
    (2)连续按动“系列选择”键，从LCD显示屏上选出所需的系列号。
    (3)按动“型号测试”键，对lC进行测试。如果IC性能合格，仪器将显示其型号，并鸣笛一声；如果IC未能通过测试，仪器将鸣笛三声，此时应从插座上取下IC，检查引脚有无管路、断路及插座的接触不良等故障。如果排除上述问题后，IC芯片仍不能通过测试，则说明此IC不合格。
    (4)当多片同型号lC测量时，应先按“型号”测出首片型号，再按“性能测试”键，测余下的IC。IC性能合格，仪器将显示其型号；IC性能不合格肘，仪器将显示“999”，并鸣笛三声。