由图5. 28的VCE -IC特性可以MAX1480BEPI求得晶体管的电流放大系数。电流放大系数是晶体管的输出电流( Ic)与输入电流(Is)之比。电流放大系数还有直流电流放大系数^，。和交流电流放大系数hf。之分，后者是指微小电流增量的放大系数。例如图5. 28中（画有o的位置）的VCE =2V，IB一0.06时，可分别求得矗FE和hfe为
    hFE一{}一百20三会_ =333
    (20-13)mA
  hfe一瓮一0
    。．06 -0. 04) mA
    特性曲线测试仪的结构。晶体三极管FET(场效应晶体管)、晶闸管、晶体二极管等各种半导体元器件的静特性曲线可似在示波管中描绘，特性曲线测试仪就是用来观察上述半导体元器件特性的装置。
    图5. 29为特性曲线测试仪的外形，图5.30为特性曲线测试仪的结构图，包括使加于样品（三极管、FET等）上的电压连续变化的扫描电源，产生参变量信号的阶梯波发生器，元器件电流的检测电阻r，电压轴、电流轴放大器以及电子束管等部分。其中，扫描电源为50Hz或60Hz交流电压经全波整流后的脉动电压。阶梯波发生器是一种与扫描电压同步，输出（电流或电压）振幅阶梯状变化的电源，如图5. 31所示。现在，使晶体三极管的基极中流出ImA间隔的阶梯波电流，从OV～10V变化的四个脉动波扫描电压加到集电极一发射极之间，则示波管上描绘出的三极管Vc。一J。静特性如图5. 31所示。