非在路测试集成电路的注意事项
发布时间:2012/12/24 19:10:10 访问次数:721
在用指针式万用表或者数PS21869-AP字式万用表进行集成电路的非在路测试时，要注意以下事项：
(1)由于集成电路内部有大量的二极管、三极管等非线性元器件，在用指针式万用表的电阻挡检测时，仅测得一个电阻值还不能判断其好坏，必须交换表笔再测一次，以便得到正、反向两个电阻值。只有当正、反向阻值都符合标准，才能断定该集成电路完好。
同样的，在用数字式万用表的二极管检测挡检测时，也必须进行正、反向两次测试，才好作出判断。
(2)因为指针式万用表的R×1挡电流较大，R×lok挡电压较高，所以一般应避免使用R×1挡和R×lOk挡来测量集成电路。
代换法
代换法是用相同规格墅号的完好集成电路来代换被测的集成电路的方法。通过代换可以判断出该集成电路是否损坏。这种方法判断准确可靠，特别是对使用了插座的集成电路，可以很方便地拔下来，另换完好的集成电路来判断。对于直接焊接在电路板上的集成电路，要将它拆卸下来则比较麻烦。
在路测量法
在路测量法是通过在电路上测量集成电路的各引脚对地的正反向直流电阻值、直流电压值以及工作电流是否正常，来判断该集成电路是否损坏的检测方法。
这种方法克服了代换法需要有可供代换的集成电路的局限性和拆卸集成电路的麻烦，是检测集成电路最实用的方法。
(1)由于集成电路内部有大量的二极管、三极管等非线性元器件，在用指针式万用表的电阻挡检测时，仅测得一个电阻值还不能判断其好坏，必须交换表笔再测一次，以便得到正、反向两个电阻值。只有当正、反向阻值都符合标准，才能断定该集成电路完好。
同样的，在用数字式万用表的二极管检测挡检测时，也必须进行正、反向两次测试，才好作出判断。
(2)因为指针式万用表的R×1挡电流较大，R×lok挡电压较高，所以一般应避免使用R×1挡和R×lOk挡来测量集成电路。
代换法
代换法是用相同规格墅号的完好集成电路来代换被测的集成电路的方法。通过代换可以判断出该集成电路是否损坏。这种方法判断准确可靠，特别是对使用了插座的集成电路，可以很方便地拔下来，另换完好的集成电路来判断。对于直接焊接在电路板上的集成电路，要将它拆卸下来则比较麻烦。
在路测量法
在路测量法是通过在电路上测量集成电路的各引脚对地的正反向直流电阻值、直流电压值以及工作电流是否正常，来判断该集成电路是否损坏的检测方法。
这种方法克服了代换法需要有可供代换的集成电路的局限性和拆卸集成电路的麻烦，是检测集成电路最实用的方法。
在用指针式万用表或者数PS21869-AP字式万用表进行集成电路的非在路测试时，要注意以下事项：
(1)由于集成电路内部有大量的二极管、三极管等非线性元器件，在用指针式万用表的电阻挡检测时，仅测得一个电阻值还不能判断其好坏，必须交换表笔再测一次，以便得到正、反向两个电阻值。只有当正、反向阻值都符合标准，才能断定该集成电路完好。
同样的，在用数字式万用表的二极管检测挡检测时，也必须进行正、反向两次测试，才好作出判断。
(2)因为指针式万用表的R×1挡电流较大，R×lok挡电压较高，所以一般应避免使用R×1挡和R×lOk挡来测量集成电路。
代换法
代换法是用相同规格墅号的完好集成电路来代换被测的集成电路的方法。通过代换可以判断出该集成电路是否损坏。这种方法判断准确可靠，特别是对使用了插座的集成电路，可以很方便地拔下来，另换完好的集成电路来判断。对于直接焊接在电路板上的集成电路，要将它拆卸下来则比较麻烦。
在路测量法
在路测量法是通过在电路上测量集成电路的各引脚对地的正反向直流电阻值、直流电压值以及工作电流是否正常，来判断该集成电路是否损坏的检测方法。
这种方法克服了代换法需要有可供代换的集成电路的局限性和拆卸集成电路的麻烦，是检测集成电路最实用的方法。
(1)由于集成电路内部有大量的二极管、三极管等非线性元器件，在用指针式万用表的电阻挡检测时，仅测得一个电阻值还不能判断其好坏，必须交换表笔再测一次，以便得到正、反向两个电阻值。只有当正、反向阻值都符合标准，才能断定该集成电路完好。
同样的，在用数字式万用表的二极管检测挡检测时，也必须进行正、反向两次测试，才好作出判断。
(2)因为指针式万用表的R×1挡电流较大，R×lok挡电压较高，所以一般应避免使用R×1挡和R×lOk挡来测量集成电路。
代换法
代换法是用相同规格墅号的完好集成电路来代换被测的集成电路的方法。通过代换可以判断出该集成电路是否损坏。这种方法判断准确可靠，特别是对使用了插座的集成电路，可以很方便地拔下来，另换完好的集成电路来判断。对于直接焊接在电路板上的集成电路，要将它拆卸下来则比较麻烦。
在路测量法
在路测量法是通过在电路上测量集成电路的各引脚对地的正反向直流电阻值、直流电压值以及工作电流是否正常，来判断该集成电路是否损坏的检测方法。
这种方法克服了代换法需要有可供代换的集成电路的局限性和拆卸集成电路的麻烦，是检测集成电路最实用的方法。
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