晶体三极管的主要故障
发布时间:2012/12/23 12:47:38 访问次数:1250
(1)击穿,电极之M27C256B-15F6间短路或者断路。
(2)性能不良。
(3)稳定性差。
集成电路
集成电路常用的检测方法有非在路测量法、在路测量法和代换法。
非在路测量法
非在路测量发是在集成电路未焊入电路(或于外围电路完全脱开)时对其进行测量的方法。通过用指针式万用表测量集成电路各引脚与接地引脚之间的正、反向电阻值,或者用数字式万用表测量集成电路各引脚与接地引脚之间的正、反向压降值,判断其是否正常。
如果有与被测试集成电路相同规格型号的完好集成电路,可以将两者的测量结果逐一进行比较对照,这样判断更加准确无误。
用指针式万用表测量非在路集成电路
1.测量方法
将万用表置于R×Ik挡(或R×100、R×10挡)上,先把红表笔接集成电路的接地引脚不变,然后用黑表笔依次接触其他引脚,分别测出并记录下各引脚对接地引脚的电阻值,如图4. 66所示。
现在互换两支表笔,把黑表笔接集成电路的接地引脚不变,再用红表笔依次接触其他引脚,分别测出并记录下各引脚对接地引脚的电阻值,如图4.67所示。
2.判断原则
用指针式万用表测量时,一般来说,陈空脚外,集成电路的任何一只引脚与其接地引脚之间的电阻值不应为零或无穷大;在大多数情况下,其正、反向电阻值不会相同,有时电阻值的差别比较小,有时相差悬殊。
如果一只引脚与接地引脚之间的电阻值变为O或无穷大,或者其、正反向电阻值原来有明显差别,现在变为相差无几或差别的规律相反,则说明该引脚与接地引脚之间的内部电路存有短路、开路、击穿等故障。这样的集成电路可能已经损坏,或者性能变差。
(1)正、反向电阻值不相等,可以判断集成电路基本完好。
(2)正、反向电阻值相等,集成电路可能性能变差或者损坏。
(3)正、反向电阻值都为0,该两极极间短路。
(4)正、反向电阻值都为无穷大,该两极极间开路。
如果有相同规格型号的完好集成电路,可以将两者的测量结果进行对照,这样可作出更加准确的判断。
(1)击穿,电极之M27C256B-15F6间短路或者断路。
(2)性能不良。
(3)稳定性差。
集成电路
集成电路常用的检测方法有非在路测量法、在路测量法和代换法。
非在路测量法
非在路测量发是在集成电路未焊入电路(或于外围电路完全脱开)时对其进行测量的方法。通过用指针式万用表测量集成电路各引脚与接地引脚之间的正、反向电阻值,或者用数字式万用表测量集成电路各引脚与接地引脚之间的正、反向压降值,判断其是否正常。
如果有与被测试集成电路相同规格型号的完好集成电路,可以将两者的测量结果逐一进行比较对照,这样判断更加准确无误。
用指针式万用表测量非在路集成电路
1.测量方法
将万用表置于R×Ik挡(或R×100、R×10挡)上,先把红表笔接集成电路的接地引脚不变,然后用黑表笔依次接触其他引脚,分别测出并记录下各引脚对接地引脚的电阻值,如图4. 66所示。
现在互换两支表笔,把黑表笔接集成电路的接地引脚不变,再用红表笔依次接触其他引脚,分别测出并记录下各引脚对接地引脚的电阻值,如图4.67所示。
2.判断原则
用指针式万用表测量时,一般来说,陈空脚外,集成电路的任何一只引脚与其接地引脚之间的电阻值不应为零或无穷大;在大多数情况下,其正、反向电阻值不会相同,有时电阻值的差别比较小,有时相差悬殊。
如果一只引脚与接地引脚之间的电阻值变为O或无穷大,或者其、正反向电阻值原来有明显差别,现在变为相差无几或差别的规律相反,则说明该引脚与接地引脚之间的内部电路存有短路、开路、击穿等故障。这样的集成电路可能已经损坏,或者性能变差。
(1)正、反向电阻值不相等,可以判断集成电路基本完好。
(2)正、反向电阻值相等,集成电路可能性能变差或者损坏。
(3)正、反向电阻值都为0,该两极极间短路。
(4)正、反向电阻值都为无穷大,该两极极间开路。
如果有相同规格型号的完好集成电路,可以将两者的测量结果进行对照,这样可作出更加准确的判断。
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