向量法测试技术
发布时间:2012/10/13 19:52:16 访问次数:846
对于IC器件来说，特别是数字器件，包括时ISPLS1024-60LH883序器件和组合器件，如与非门等则采用驱动器激励数字器件，如采用一系列中频串联的Ⅳ分频计数器激励数字器件，即将Ⅳ分频计数器的输出方波加到器件的输入端，以完成对器件的激励，并根据器件的真值表确定所加的测试频率，测试系统根据测试标准板与被测器件进行比较和评估，该方法也被称为格雷码测试方法。另一种测试方法中则以短脉信号代替方波激励，这种方法仍同样需要根据器件真值表进行输入和输出的检测和检验。实际测试过程中，通常采用高速接收器从器件输出引脚上取出响应，并存储在RAM中，经分析比较完成对器件的测试。
上述两种方法由于输入信号是数字信号，并需根据器件的真值表对被测器件进行激励和分析输出信息，以确定器件功熊的好坏，故这种测试方法又称为向量测试法。但由于IC复杂程度的提高，特别是ASIC器件的出现，取得器件的真值表以及分析器件的逻辑功能和测试编程是非常困难的，故向量法测试技术逐步被边界扫描测试技术和非向量测试技术所取代。
边界扫描测试技术(Boundary Scan Test)
由于IC技术突飞猛进的发展，超亚微米技术已成为主流，这意味着IC的集成度越来越高，内部功能、复杂程度极大地提高，I/O接口也相应地增加，为了有效地进行检测，PCB应有尽可能多的测试点，如按传统的思路进行针床设计，那么针床就变得非常复杂，导致成本和维护的费用增加。为了保证测试点足够覆盖率的同时，又能够降低针床的复杂程度，故出现了几种有关超大规模集成块测试方法，边界扫描检测技术就是其中之一。
边界扫描测试技术的指导思想是，使用符合边界扫描标准的器件进行线路板设计，并在线路板布线时就考虑到它的可测试性(DFT)，只要通过对几个简单的专用测试引脚的测试，就可以判别IC内部逻辑性能的好坏，同时也就能断定是否有焊接故障，以及故障在何部位，这种技术又称为边界扫描测试技术。边界扫描技术，首先是由飞利浦等欧洲电子制造商在20世纪80午代中期提出的，并以JTAG (Joint Teit Action Group)命名，后来被IEEE认可，并在1990年正式认定为IEEE1159.1- 90标准。
边界扫描检测技术是通过具有边界扫描功能的器件来实现的，因此边界扫描测试技术又是专门针对这类器件而执行的，换言之，不具备边界扫描功能的lC，仍不能用此技术测试，通常将具有边界扫描功能的IC称为边界扫描器件(Boundany Scan Devices)，如图15.83所示。
边界扫描器件首先用于那些复杂的VLSI或ASIC器件，通常这类器件完全是数字化电路，因此在数字IC芯片的主功能逻辑其外部引脚之间，即在芯片内部插入标准的边界扫描单元(Boundary Scan Cell)，这些单元彼此串联在主逻辑电路周围，构成了移位寄存器。移位寄存器的两端分别与TDI (Test Data Input)和TDO (Test Data Onput)相连接，构成了IC本身的扫描路途。
上述两种方法由于输入信号是数字信号，并需根据器件的真值表对被测器件进行激励和分析输出信息，以确定器件功熊的好坏，故这种测试方法又称为向量测试法。但由于IC复杂程度的提高，特别是ASIC器件的出现，取得器件的真值表以及分析器件的逻辑功能和测试编程是非常困难的，故向量法测试技术逐步被边界扫描测试技术和非向量测试技术所取代。
边界扫描测试技术(Boundary Scan Test)
由于IC技术突飞猛进的发展，超亚微米技术已成为主流，这意味着IC的集成度越来越高，内部功能、复杂程度极大地提高，I/O接口也相应地增加，为了有效地进行检测，PCB应有尽可能多的测试点，如按传统的思路进行针床设计，那么针床就变得非常复杂，导致成本和维护的费用增加。为了保证测试点足够覆盖率的同时，又能够降低针床的复杂程度，故出现了几种有关超大规模集成块测试方法，边界扫描检测技术就是其中之一。
边界扫描测试技术的指导思想是，使用符合边界扫描标准的器件进行线路板设计，并在线路板布线时就考虑到它的可测试性(DFT)，只要通过对几个简单的专用测试引脚的测试，就可以判别IC内部逻辑性能的好坏，同时也就能断定是否有焊接故障，以及故障在何部位，这种技术又称为边界扫描测试技术。边界扫描技术，首先是由飞利浦等欧洲电子制造商在20世纪80午代中期提出的，并以JTAG (Joint Teit Action Group)命名，后来被IEEE认可，并在1990年正式认定为IEEE1159.1- 90标准。
边界扫描检测技术是通过具有边界扫描功能的器件来实现的，因此边界扫描测试技术又是专门针对这类器件而执行的，换言之，不具备边界扫描功能的lC，仍不能用此技术测试，通常将具有边界扫描功能的IC称为边界扫描器件(Boundany Scan Devices)，如图15.83所示。
边界扫描器件首先用于那些复杂的VLSI或ASIC器件，通常这类器件完全是数字化电路，因此在数字IC芯片的主功能逻辑其外部引脚之间，即在芯片内部插入标准的边界扫描单元(Boundary Scan Cell)，这些单元彼此串联在主逻辑电路周围，构成了移位寄存器。移位寄存器的两端分别与TDI (Test Data Input)和TDO (Test Data Onput)相连接，构成了IC本身的扫描路途。
对于IC器件来说，特别是数字器件，包括时ISPLS1024-60LH883序器件和组合器件，如与非门等则采用驱动器激励数字器件，如采用一系列中频串联的Ⅳ分频计数器激励数字器件，即将Ⅳ分频计数器的输出方波加到器件的输入端，以完成对器件的激励，并根据器件的真值表确定所加的测试频率，测试系统根据测试标准板与被测器件进行比较和评估，该方法也被称为格雷码测试方法。另一种测试方法中则以短脉信号代替方波激励，这种方法仍同样需要根据器件真值表进行输入和输出的检测和检验。实际测试过程中，通常采用高速接收器从器件输出引脚上取出响应，并存储在RAM中，经分析比较完成对器件的测试。
上述两种方法由于输入信号是数字信号，并需根据器件的真值表对被测器件进行激励和分析输出信息，以确定器件功熊的好坏，故这种测试方法又称为向量测试法。但由于IC复杂程度的提高，特别是ASIC器件的出现，取得器件的真值表以及分析器件的逻辑功能和测试编程是非常困难的，故向量法测试技术逐步被边界扫描测试技术和非向量测试技术所取代。
边界扫描测试技术(Boundary Scan Test)
由于IC技术突飞猛进的发展，超亚微米技术已成为主流，这意味着IC的集成度越来越高，内部功能、复杂程度极大地提高，I/O接口也相应地增加，为了有效地进行检测，PCB应有尽可能多的测试点，如按传统的思路进行针床设计，那么针床就变得非常复杂，导致成本和维护的费用增加。为了保证测试点足够覆盖率的同时，又能够降低针床的复杂程度，故出现了几种有关超大规模集成块测试方法，边界扫描检测技术就是其中之一。
边界扫描测试技术的指导思想是，使用符合边界扫描标准的器件进行线路板设计，并在线路板布线时就考虑到它的可测试性(DFT)，只要通过对几个简单的专用测试引脚的测试，就可以判别IC内部逻辑性能的好坏，同时也就能断定是否有焊接故障，以及故障在何部位，这种技术又称为边界扫描测试技术。边界扫描技术，首先是由飞利浦等欧洲电子制造商在20世纪80午代中期提出的，并以JTAG (Joint Teit Action Group)命名，后来被IEEE认可，并在1990年正式认定为IEEE1159.1- 90标准。
边界扫描检测技术是通过具有边界扫描功能的器件来实现的，因此边界扫描测试技术又是专门针对这类器件而执行的，换言之，不具备边界扫描功能的lC，仍不能用此技术测试，通常将具有边界扫描功能的IC称为边界扫描器件(Boundany Scan Devices)，如图15.83所示。
边界扫描器件首先用于那些复杂的VLSI或ASIC器件，通常这类器件完全是数字化电路，因此在数字IC芯片的主功能逻辑其外部引脚之间，即在芯片内部插入标准的边界扫描单元(Boundary Scan Cell)，这些单元彼此串联在主逻辑电路周围，构成了移位寄存器。移位寄存器的两端分别与TDI (Test Data Input)和TDO (Test Data Onput)相连接，构成了IC本身的扫描路途。
上述两种方法由于输入信号是数字信号，并需根据器件的真值表对被测器件进行激励和分析输出信息，以确定器件功熊的好坏，故这种测试方法又称为向量测试法。但由于IC复杂程度的提高，特别是ASIC器件的出现，取得器件的真值表以及分析器件的逻辑功能和测试编程是非常困难的，故向量法测试技术逐步被边界扫描测试技术和非向量测试技术所取代。
边界扫描测试技术(Boundary Scan Test)
由于IC技术突飞猛进的发展，超亚微米技术已成为主流，这意味着IC的集成度越来越高，内部功能、复杂程度极大地提高，I/O接口也相应地增加，为了有效地进行检测，PCB应有尽可能多的测试点，如按传统的思路进行针床设计，那么针床就变得非常复杂，导致成本和维护的费用增加。为了保证测试点足够覆盖率的同时，又能够降低针床的复杂程度，故出现了几种有关超大规模集成块测试方法，边界扫描检测技术就是其中之一。
边界扫描测试技术的指导思想是，使用符合边界扫描标准的器件进行线路板设计，并在线路板布线时就考虑到它的可测试性(DFT)，只要通过对几个简单的专用测试引脚的测试，就可以判别IC内部逻辑性能的好坏，同时也就能断定是否有焊接故障，以及故障在何部位，这种技术又称为边界扫描测试技术。边界扫描技术，首先是由飞利浦等欧洲电子制造商在20世纪80午代中期提出的，并以JTAG (Joint Teit Action Group)命名，后来被IEEE认可，并在1990年正式认定为IEEE1159.1- 90标准。
边界扫描检测技术是通过具有边界扫描功能的器件来实现的，因此边界扫描测试技术又是专门针对这类器件而执行的，换言之，不具备边界扫描功能的lC，仍不能用此技术测试，通常将具有边界扫描功能的IC称为边界扫描器件(Boundany Scan Devices)，如图15.83所示。
边界扫描器件首先用于那些复杂的VLSI或ASIC器件，通常这类器件完全是数字化电路，因此在数字IC芯片的主功能逻辑其外部引脚之间，即在芯片内部插入标准的边界扫描单元(Boundary Scan Cell)，这些单元彼此串联在主逻辑电路周围，构成了移位寄存器。移位寄存器的两端分别与TDI (Test Data Input)和TDO (Test Data Onput)相连接，构成了IC本身的扫描路途。
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