为了进一步了解和分析该种二极ADC081C021CIMM管的失效模式，在此提供了硅微波PIN二极管在筛选、电试验和生产考核中的失效数据。表4. 28提供的是某型号PIN二极管筛选时剔除的失效样管的统计数据，表4. 29给出的是在未严格限定该产品高温反向漏电流情况下长期加电的失效统计结果，表4. 30给出的是该产品生产考核中样品失效的统计数据。
    从表4. 28中可以明确看出，该器件筛选中的失效主要集中在反向特性上，在常温和高温组的反向特性检测中的失效数占总失效数的62. 4%。
    从表4. 29中的数据可以看出，在失效器件中额定反向偏压下漏电流的增大约占失效器件总数的91. 7%。

    从表4. 30中的数据可以看出，虽然在历年生产考核中按原标准该器件已显示出较好的可靠性，但从个别批次生产考核中偶有失效的器件，其失效模式仍为器件反向特性的失效。
    从上述失效分析中我们清楚地知道，该器件的失效模式主要为反向特性失效，这为开展针对性的可靠性增长设计提供了依据。