极限应力试验
发布时间:2012/4/18 19:44:35 访问次数:2125
表示产品维持正常工作状态时所SGM324YTS14能承受的最大应力称为极限应力,它是产品的固有性质。确定产品极限应力大小的试验称为极限应力试验。
进行极限应力试验的目的是确定电子元器件的最大能力,这些能力包括绝对最大额定值(从中可推算出安全设计极限值)、在不引起退化前提下筛选或试验时施加的最大应力、对不引起退化的特殊筛选或试验的敏感性、对特殊筛选或试验应力的敏感性,以及与之有关的失效模式或机理。极限应力试验对新设计的产品或当产品的设计、结构、材料、工艺有重大改变时进行能力估计是非常有用的。
极限应力试验一般包括极限环境应力试验、极限电应力试验和极限温度应力试验。
(1)极限环境应力试验
极限环境应力试验的项目一般应包含耐冲击、振动、加速度、拉力、剪切力、弯曲力、噪声、高低温、低气压、潮湿、盐雾、霉菌、沙尘、电浪涌、电磁场、化学气体和核辐射等方面,但在设计具体产品的极限环境试验时,要根据设计任务书、合同或协议将选择其中的部分项目进行考核评价。环境应力极限试验有以下两种实施方法,选择何种实施方法需要根据具体产品、使用要求来确定。
①极限耐环境应力试验,通过逐步增大环境应力条件直至试样失效,观察试样承受环境应力极限值相对标准规定值的富余量;
②在标准规定的环境应力下作超时间或超次数的试验,考核其耐受时间或次数和产品性能变化量相对标准规定量之间的富余程度。
(2)极限电应力试验
极限电应力试验主要是对元器件的极限电流、极限电压和安全工作区(适应功率电子元器件)进行的试验,例如对微波功率晶体管的ICM、TjM、PCM、击穿电压及安全工作区,对电阻器有最大功耗,对电容器有最高耐压等进行的测试和试验等。
(3)极限温度应力试验
极限温度应力试验的目的是确定电子元器件的最大工作温度极限的试验,例如,硅器件的极限工作结温为200℃,砷化镓嚣件为175℃。
(4)微电路极限试验的基本方法
美国国防部微电子试验标准MIL-STD-883E中给出了微电路进行极限试验的基本方法,各项极限应力试验名称和样本大小见表1.10。
(5)进行极限试验的注意事项
①层次性要求。在极限试验过程中只有按照由低到高的层次关系进行试验,才能充分暴露产品中的缺陷,更准确地分析产生这些缺陷的根本原因,确定下一层次试验的方案,达到最佳的试验效果,从而使产品的可靠性从根本上得到保障。
②样品选择。为了保证试验的有效性,极限试验必须在能够代表设计、元件、材料和制造工艺都已落实的样品上进行,这样才能充分地发现设计的薄弱环节,更
准确地分析产生这些缺陷的根本原因。
③所需资源。要进行极限试验,除一般的高效率试验设备外,还需要一个试验技术小组,它包括产品设计、制造加工、可靠性试验和失效分析等各类型的技术人员,为产品的试验提供全面的技术支持,其主要任务是制订试验方案,安排试验进程,检测试验中产品失效形式,分析试验结果,确定修正的优先级和修正方案。
表示产品维持正常工作状态时所SGM324YTS14能承受的最大应力称为极限应力,它是产品的固有性质。确定产品极限应力大小的试验称为极限应力试验。
进行极限应力试验的目的是确定电子元器件的最大能力,这些能力包括绝对最大额定值(从中可推算出安全设计极限值)、在不引起退化前提下筛选或试验时施加的最大应力、对不引起退化的特殊筛选或试验的敏感性、对特殊筛选或试验应力的敏感性,以及与之有关的失效模式或机理。极限应力试验对新设计的产品或当产品的设计、结构、材料、工艺有重大改变时进行能力估计是非常有用的。
极限应力试验一般包括极限环境应力试验、极限电应力试验和极限温度应力试验。
(1)极限环境应力试验
极限环境应力试验的项目一般应包含耐冲击、振动、加速度、拉力、剪切力、弯曲力、噪声、高低温、低气压、潮湿、盐雾、霉菌、沙尘、电浪涌、电磁场、化学气体和核辐射等方面,但在设计具体产品的极限环境试验时,要根据设计任务书、合同或协议将选择其中的部分项目进行考核评价。环境应力极限试验有以下两种实施方法,选择何种实施方法需要根据具体产品、使用要求来确定。
①极限耐环境应力试验,通过逐步增大环境应力条件直至试样失效,观察试样承受环境应力极限值相对标准规定值的富余量;
②在标准规定的环境应力下作超时间或超次数的试验,考核其耐受时间或次数和产品性能变化量相对标准规定量之间的富余程度。
(2)极限电应力试验
极限电应力试验主要是对元器件的极限电流、极限电压和安全工作区(适应功率电子元器件)进行的试验,例如对微波功率晶体管的ICM、TjM、PCM、击穿电压及安全工作区,对电阻器有最大功耗,对电容器有最高耐压等进行的测试和试验等。
(3)极限温度应力试验
极限温度应力试验的目的是确定电子元器件的最大工作温度极限的试验,例如,硅器件的极限工作结温为200℃,砷化镓嚣件为175℃。
(4)微电路极限试验的基本方法
美国国防部微电子试验标准MIL-STD-883E中给出了微电路进行极限试验的基本方法,各项极限应力试验名称和样本大小见表1.10。
(5)进行极限试验的注意事项
①层次性要求。在极限试验过程中只有按照由低到高的层次关系进行试验,才能充分暴露产品中的缺陷,更准确地分析产生这些缺陷的根本原因,确定下一层次试验的方案,达到最佳的试验效果,从而使产品的可靠性从根本上得到保障。
②样品选择。为了保证试验的有效性,极限试验必须在能够代表设计、元件、材料和制造工艺都已落实的样品上进行,这样才能充分地发现设计的薄弱环节,更
准确地分析产生这些缺陷的根本原因。
③所需资源。要进行极限试验,除一般的高效率试验设备外,还需要一个试验技术小组,它包括产品设计、制造加工、可靠性试验和失效分析等各类型的技术人员,为产品的试验提供全面的技术支持,其主要任务是制订试验方案,安排试验进程,检测试验中产品失效形式,分析试验结果,确定修正的优先级和修正方案。
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