失效率(A)是描述电子元器件EP3C80F780I7N在规定条件下和规定时间内发生失效的概率，是表征电子元器件可靠性水平的一种量化特征量。若有10 000个电阻器，经过10 000h有1个失效，则它的失效率为10-8／h。
    1979年颁布的国家标准GB/T1772-79《电子元件失效率试验方法》对确立可靠性定量指标(ER)要求的元件（例如，电容器、电阻器以及继电器等），规定了7个失效率等级。1996年发布的国家军用标准GJB2649-96《军用电子元件失效率抽样方案和程序》，将7个失效率等级减少为5个。为比较，现将这两个标准中规定的失效率等级的名称、代号及最大失效率列于表1.6中。标准中规定的失效率是产品标准规定的额定条件下的失效率。

    一般来说，对于有失效率指标要求的电子元件，用户基本上是根据同类产品标准上规定的额定条件，按照GB 1772-79成GJB 2649-96的试验方法对所研制的新产品进行定级试验，以考核所研产品是否达到了所要求的可靠性指标。
    电子元器件、材料的微量化学物理变化会引起产品特性参数的退化，当其特性参数退化到某一极限值时，产品就发生失效，而退化所经历的时间就是产品的寿命。
    电子模块、电子组件和小型电子仪器等的寿命通常是用寿命指标（如MTBF，小时）来定量表征。
    有些电子元器件，如电子管通常以寿命指标（小时）表征其可靠性，而继电器还可以用吸放次数来反映其寿命。产品寿命与失效率之间存在一定的换算关系，寿命特征服从指数分布的产品，可按式(1.3)MTBF和失效率(A)互为倒数的关系进行换算。电子模块、组件等也可将寿命指标MTBF换算为失效率等级来表示。