操作夹误
发布时间:2012/3/7 19:37:43 访问次数:524
在装配电子元器件时，操作失误也是造成元器件经常出现失效的原因之一，例如电解电容极性装反引起的爆炸、半导体三极管极性加反引起的烧毁失效、装配中元器件机械应力过大而开裂变形等。A3972SB
过电应力损伤
过电应力引起的元器件失效占总失效数的比率很大，它发生在元器件的测试、筛选、装配、调试及工作运行的各阶段，其原因是多种多样的。例如，CMOS电子器件对静电非常敏感，当使用环境产生的静电超过电子元器件的静电阈值时，元器件就会出现过电应力损伤而失效。
过电应力损伤
过电应力引起的元器件失效占总失效数的比率很大，它发生在元器件的测试、筛选、装配、调试及工作运行的各阶段，其原因是多种多样的。例如，CMOS电子器件对静电非常敏感，当使用环境产生的静电超过电子元器件的静电阈值时，元器件就会出现过电应力损伤而失效。
在装配电子元器件时，操作失误也是造成元器件经常出现失效的原因之一，例如电解电容极性装反引起的爆炸、半导体三极管极性加反引起的烧毁失效、装配中元器件机械应力过大而开裂变形等。A3972SB
过电应力损伤
过电应力引起的元器件失效占总失效数的比率很大，它发生在元器件的测试、筛选、装配、调试及工作运行的各阶段，其原因是多种多样的。例如，CMOS电子器件对静电非常敏感，当使用环境产生的静电超过电子元器件的静电阈值时，元器件就会出现过电应力损伤而失效。
过电应力损伤
过电应力引起的元器件失效占总失效数的比率很大，它发生在元器件的测试、筛选、装配、调试及工作运行的各阶段，其原因是多种多样的。例如，CMOS电子器件对静电非常敏感，当使用环境产生的静电超过电子元器件的静电阈值时，元器件就会出现过电应力损伤而失效。
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