SN54ABT18640/SN74ABT18640扫描测试装置与18位反转总线收发器电路的基本特性：

1) 德州仪器生产；
2) 符合IEEE标准；
3) 1149.1-1990 (JTAG)标准的测试接入端口和边界扫描结构；
4) 输出伪随机模式；
5) 采样输入/切换输出；
6) 输出二进制计数；
7) 识别装置；
8) 先进技术EPIC-IIBE BiCMOS设计极大地降低了功耗。

SN54ABT18652/SN74ABT18652扫描测试设备18位总线收发器和寄存器电路的基本特性：

1) 1149.1-1990 (JTAG)标准的测试接入端口和边界扫描结构；
2) 包括D触发器和提供多路复用的控制电路；
3) 存储和实时数据的传输；
4) 为了增加灵活性，每个I/O接口有2个边界扫描单元；
5) 先进技术EPIC-IIBE BiCMOS设计大大降低了功耗。