Nand-Flash 的设计
发布时间:2008/12/25 0:00:00 访问次数:723
系统中所采用的nand-flash芯片是samsung公司的k9f2808u。该器件存储容量为16m×8位,除此之外还有512k×8位的空闲存储区。该器件采用tssop48封装,工作电压为2.7~3.6v。8位i/o端口采用地址、数据和命令复用的方法,这样既可减少引脚数,又可使接口电路简捷。
由于arm系统没有nand-hash控制所需要的cle、ale信号,因此需要利用arm的通用gpio口。具体的连接电路如图所示。
图 nand flash模块
nand-flash引脚定义如表所示。
表 nand-flash引脚定义
·命令锁存使能(cle),使输入的命令发送到命令寄存器。当变为高电平时,在we上升沿命令通过iio口锁存到命令寄存器。
·地址锁存使能(ale),控制地址输入到片内的地址寄存器中,地址是在we的上升沿被锁存的。
·片选使能(ce),用于器件的选择控制。在读操作、cb变为高电平时,器件返回到备用状态;然而,当器件在写操作或擦除操作过程中保持忙状态时,ce的变高将被忽略,不会返回到备用状态。
·写使能(we),用于控制把命令、地址和数据在它的上升沿写入到i/o端口;而在读操作时必须保持高电平。
·读使能(re),控制把数据放到i/o总线上,在它的下降沿trea时间后数据有效; 同时使内部的列地址自动加1。
·i/o端口,用于命令、地址和数据的输入及读操作时的数据输出。当芯片未选中时, i/o口为高阻态。
·工写保护(wp),禁止写操作和擦除操作。当它有效时,内部的高压生成器将会复位。
·准备/忙(r/b),反映当前器件的状态。低电平时,表示写操作或擦除操作以及随机读正进行中;当它变为高电平时,表示这些操作已经完成。它采用了开漏输出结构,在芯片未选中时不会保持高阻态。
欢迎转载,信息来自维库电子市场网(www.dzsc.com)
系统中所采用的nand-flash芯片是samsung公司的k9f2808u。该器件存储容量为16m×8位,除此之外还有512k×8位的空闲存储区。该器件采用tssop48封装,工作电压为2.7~3.6v。8位i/o端口采用地址、数据和命令复用的方法,这样既可减少引脚数,又可使接口电路简捷。
由于arm系统没有nand-hash控制所需要的cle、ale信号,因此需要利用arm的通用gpio口。具体的连接电路如图所示。
图 nand flash模块
nand-flash引脚定义如表所示。
表 nand-flash引脚定义
·命令锁存使能(cle),使输入的命令发送到命令寄存器。当变为高电平时,在we上升沿命令通过iio口锁存到命令寄存器。
·地址锁存使能(ale),控制地址输入到片内的地址寄存器中,地址是在we的上升沿被锁存的。
·片选使能(ce),用于器件的选择控制。在读操作、cb变为高电平时,器件返回到备用状态;然而,当器件在写操作或擦除操作过程中保持忙状态时,ce的变高将被忽略,不会返回到备用状态。
·写使能(we),用于控制把命令、地址和数据在它的上升沿写入到i/o端口;而在读操作时必须保持高电平。
·读使能(re),控制把数据放到i/o总线上,在它的下降沿trea时间后数据有效; 同时使内部的列地址自动加1。
·i/o端口,用于命令、地址和数据的输入及读操作时的数据输出。当芯片未选中时, i/o口为高阻态。
·工写保护(wp),禁止写操作和擦除操作。当它有效时,内部的高压生成器将会复位。
·准备/忙(r/b),反映当前器件的状态。低电平时,表示写操作或擦除操作以及随机读正进行中;当它变为高电平时,表示这些操作已经完成。它采用了开漏输出结构,在芯片未选中时不会保持高阻态。
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