从上面的调试接口示意图可以知道，jtag测试信号由下面5个信号组成。

　　trst：测试复位输入信号，测试接口初始化

　　tck：测试时钟，在tck时钟的同步作用下，通过tdi和tdo引脚串行移入／移出数据或指令；同时，也为tap（测试访问端口）控制器的状态机提供时钟。

　　tms：测试模式选择信号，控制测试接口状态机的操作。

　　tdi：测试数据输入线，其串行输入数据至边界扫描寄存器或指令寄存器（由tap控制器的当前状态及己保存在指令寄存器中的指令来控制）。

　　tdo：测试数据输出线，把从边界扫描链采样的数据传输至串行测试电路中的下一个芯片。

　　jtag可以对同一块电路板上多块芯片进行测试。trst、tck和tms信号并行至各个芯片，而一块芯片的tdo接至下一芯片的tdi。jtag的时序图如图所示。

　　图 jtag时序图

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