位置:51电子网 » 技术资料 » 其它综合

0201元件不同的装配工艺中焊点桥连与元器件间距之间的关系

发布时间:2008/12/17 0:00:00 访问次数:447

  焊点桥连缺陷与元器件之间的间距相关。试验表明,随着元器件间距的增加,焊点桥连缺陷也随之减少,当元 器件间距为0.012″或更大时,在3个装配工艺中都没有发现有桥连的缺陷。同时,我们可以发现在3种装配工艺 中,使用免洗型锡膏在空气中回流产生的焊点桥连缺陷数最少,共计14个;使用水溶性锡膏在空气中回流产生的 焊点桥连缺陷次之,共计99个;而使用免洗型锡膏在氮气中回流产生的焊点桥连缺陷最多,为866个,如图1所示 。

  在使用免洗型锡膏空气中回流的装配工艺中,当元器件间距最小为0.008″时,在18种焊盘设计组合中有12种 组合没有产生任何焊点桥连缺陷。在使用水溶性锡膏空气中回流的装配工艺中,当元器件间距最小为0.008″时,在18种焊盘设计组合中有10种组合没有产生任何焊点桥连缺陷。 在使用免洗型锡膏氮气中回流的装配工艺中,当元器件间距最小为0.008″时,在18种焊盘设计组合中有6种组合 没有产生任何焊点桥连缺陷。


 图1 不同的装配工艺中焊点桥连与元器件间距之间的关系

  欢迎转载,信息来源维库电子市场网(www.dzsc.com)



  焊点桥连缺陷与元器件之间的间距相关。试验表明,随着元器件间距的增加,焊点桥连缺陷也随之减少,当元 器件间距为0.012″或更大时,在3个装配工艺中都没有发现有桥连的缺陷。同时,我们可以发现在3种装配工艺 中,使用免洗型锡膏在空气中回流产生的焊点桥连缺陷数最少,共计14个;使用水溶性锡膏在空气中回流产生的 焊点桥连缺陷次之,共计99个;而使用免洗型锡膏在氮气中回流产生的焊点桥连缺陷最多,为866个,如图1所示 。

  在使用免洗型锡膏空气中回流的装配工艺中,当元器件间距最小为0.008″时,在18种焊盘设计组合中有12种 组合没有产生任何焊点桥连缺陷。在使用水溶性锡膏空气中回流的装配工艺中,当元器件间距最小为0.008″时,在18种焊盘设计组合中有10种组合没有产生任何焊点桥连缺陷。 在使用免洗型锡膏氮气中回流的装配工艺中,当元器件间距最小为0.008″时,在18种焊盘设计组合中有6种组合 没有产生任何焊点桥连缺陷。


 图1 不同的装配工艺中焊点桥连与元器件间距之间的关系

  欢迎转载,信息来源维库电子市场网(www.dzsc.com)



相关IC型号

热门点击

 

推荐技术资料

罗盘误差及补偿
    造成罗盘误差的主要因素有传感器误差、其他磁材料干扰等。... [详细]
版权所有:51dzw.COM
深圳服务热线:13751165337  13692101218
粤ICP备09112631号-6(miitbeian.gov.cn)
公网安备44030402000607
深圳市碧威特网络技术有限公司
付款方式


 复制成功!