常通型器件量子阱结构设计
发布时间:2008/12/5 0:00:00 访问次数:391
对于常通型器件,要获得高态反射率大于50%,低态反射率接近为零的器件,量子阱数目需75~100对,为了减 小工作电压,对应较少的量子阱数目,在器件顶部增加dbr可增大器件顶部反射率,2对λ/4光学厚度的a10.1 gao.9as/alas的dbr即可使顶部反射率达到0.5。这样,量子阱数目可取为50,图1和图2分别是常通型器件量子阱 结构和计算的反射谱。
从图2可以看到,虽然830~870 nm波段处于dbr高反射区内,但其反射率却不是对dbr进行单独计算时的反射谱 线,而是出现了一个很深的凹谷,这是由激子吸收和腔模式共同作用造成的。在谐振波长处量子阱吸收区存在较 高的激子吸收,而非对称f-p腔对谐振波长的入射光有干涉加强的作用,从而使入射光在腔内多次往返,增加了多量子阱的有效吸收长度,造成对入 射光的较大的衰减。
图1 常通型器件量子阱结构
图2 理论计算的常通型器件反射谱
当零电场时asfp腔模式位置被调整到860 nm附近,由于asfp腔模式波长与激子吸收峰相距较远,在860 nm处的 吸收系数很小,因而asfp腔模式对入射光的影响不大,反射率较高,在50 kv/cm和100 kv/cm的电场作用下,量子 限制stark效应使激子峰红移,使之靠近模式波长或与模式重合,这样在860 nm处,在腔膜和激子峰的共同作用下 ,产生很大的吸收,反射率急剧下降,形成随电场的增加反射率下降的常通型调制过程。因而当asfp腔模式距离 重空穴激子吸收较远时,适于制作常通型光调制器。
欢迎转载,信息来源维库电子市场网(www.dzsc.com)
对于常通型器件,要获得高态反射率大于50%,低态反射率接近为零的器件,量子阱数目需75~100对,为了减 小工作电压,对应较少的量子阱数目,在器件顶部增加dbr可增大器件顶部反射率,2对λ/4光学厚度的a10.1 gao.9as/alas的dbr即可使顶部反射率达到0.5。这样,量子阱数目可取为50,图1和图2分别是常通型器件量子阱 结构和计算的反射谱。
从图2可以看到,虽然830~870 nm波段处于dbr高反射区内,但其反射率却不是对dbr进行单独计算时的反射谱 线,而是出现了一个很深的凹谷,这是由激子吸收和腔模式共同作用造成的。在谐振波长处量子阱吸收区存在较 高的激子吸收,而非对称f-p腔对谐振波长的入射光有干涉加强的作用,从而使入射光在腔内多次往返,增加了多量子阱的有效吸收长度,造成对入 射光的较大的衰减。
图1 常通型器件量子阱结构
图2 理论计算的常通型器件反射谱
当零电场时asfp腔模式位置被调整到860 nm附近,由于asfp腔模式波长与激子吸收峰相距较远,在860 nm处的 吸收系数很小,因而asfp腔模式对入射光的影响不大,反射率较高,在50 kv/cm和100 kv/cm的电场作用下,量子 限制stark效应使激子峰红移,使之靠近模式波长或与模式重合,这样在860 nm处,在腔膜和激子峰的共同作用下 ,产生很大的吸收,反射率急剧下降,形成随电场的增加反射率下降的常通型调制过程。因而当asfp腔模式距离 重空穴激子吸收较远时,适于制作常通型光调制器。
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