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德仪器解决65纳米漏电问题

发布时间:2007/9/7 0:00:00 访问次数:197


  德州仪器近日宣布可利用通过实际产品的严格考验的SmartReflex功耗与效能管理技术,有效解决65纳米移动元件的漏电问题,其效果胜过传统的元件功耗管理技术上。  
  
  德州仪器介绍,SmartReflex技术结合智慧型和适应性硅片、电路设计与软件,可解决先进半导体制程的功耗与效能管理问题,并协助OEM厂商提供体积精巧、电池寿命长且散热更少的多媒体移动装置。此外,SmartReflex技术采用涵盖元件设计到系统软件等所有层面的系统方法,既可确保元件效能,又能有效解决移动装置的功耗问题。 

  TI首先将SmartReflex技术用于90纳米制程,随后又将这套先进技术解决方案用于65纳米产品;目前已有一亿多台移动装置采用SmartReflex技术发展的元件。  

  据悉TI正将此技术用于OMAP 2系列应用处理器,未来还会在无线产品中采用更先进的SmartReflex技术。  


  德州仪器近日宣布可利用通过实际产品的严格考验的SmartReflex功耗与效能管理技术,有效解决65纳米移动元件的漏电问题,其效果胜过传统的元件功耗管理技术上。  
  
  德州仪器介绍,SmartReflex技术结合智慧型和适应性硅片、电路设计与软件,可解决先进半导体制程的功耗与效能管理问题,并协助OEM厂商提供体积精巧、电池寿命长且散热更少的多媒体移动装置。此外,SmartReflex技术采用涵盖元件设计到系统软件等所有层面的系统方法,既可确保元件效能,又能有效解决移动装置的功耗问题。 

  TI首先将SmartReflex技术用于90纳米制程,随后又将这套先进技术解决方案用于65纳米产品;目前已有一亿多台移动装置采用SmartReflex技术发展的元件。  

  据悉TI正将此技术用于OMAP 2系列应用处理器,未来还会在无线产品中采用更先进的SmartReflex技术。  

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