初创公司Ponte Solutions日前宣布，将致力于把统计良率模型(statistical yield modeling)引入到IC设计流程内。该公司旨在解决恼人的可制造性设计(DFM)问题之一，即将精确的代工厂(foundry)信息交到设计师的手中。

    如果代工厂支持，Ponte的加密模型有可能终结对繁琐设计规则的依赖，提供更精确的设计校准方式，以获得可接受的良品比率，该公司总裁兼CEO Alex Alexanian表示。Alexanian也是SRAM初创企业Mosaic Systems公司的创始人兼前任CEO。

    Alexanian声称：“当今EDA世界与代工厂打交道依靠的是设计规则。我们相信，由于极度痛苦，这种情况将会改变。” 他指出一个90纳米的设计规则可能超过1000页，包括存在冲突的信息。

    该公司拥有60名员工。该公司承诺的统计良品率建模“平台”是一种大容量数据模型和良品率分析工具，所有产品将于2005年底发布。

    Ponte开发的统计良品率建模“平台”据称与实际的代工工艺有更高的校准度。它基于专有的数据模型，据Alexanian称能“在数小时内对大型芯片的数十亿个多边形、分层或平面结构进行灵活加工。”模型将被加密，从而工具能使用所需信息，但代工厂外的人无法看到这种信息。Ponte期望其统计良品率信息能被集成到IC设计工具内。

　 （转自　中国半导体行业网）