Inovys硅片调试解决方案，以满足更高效调试的需求，加速新的系统级芯片(SoC)器件的批量生产。把Inovys FaultInsyte软件和具有可扩充性和灵活性V93000 SoC测试系统结合在一起。这是一款集成式解决方案，通过把电路故障与复杂的系统级芯片上的物理缺陷对应起来，可以大大缩短错误检测和诊断所需的时间。它明显地缩短了制造商采用90 nm(及以下)工艺调试、投产和大批量生产所需的时间。

由于复杂的系统级芯片正日益成为消费电子设备的核心，产品的生命周期也在缩短，这直接带来了一个压力，即缩短产品开发周期，把有限的时间用于调试和特性分析。

与此同时，90nm及以下工艺中的节点设计对于铸造设备变化十分敏感，容易产生新的错误机制和故障模式。此外，在这种工艺下，工艺和设计相互影响，也会产生复杂的新错误和新缺陷。

NOR闪存芯片广泛用于手机，运行关键的手机操作系统，管理个人数据，存储相片、音乐和视频。

这款45nm的1兆位(Gb)单片闪存基于Numonyx StrataFlash存储器架构，引脚兼容恒忆目前量产的65nm NOR闪存芯片。

产品架构的兼容性和连续性使手机原始设备制造商能够降低开发成本，延长现有产品平台的生命周期，利用大容量存储和速度更快的存储器“立即执行”功能，加快向市场推出新产品的速度。与上一代产品相比，新技术将数据写入速度提高50%。

它们代表地图上的各种3-D物体（如高层建筑），并且实现了详细的高级GUI以及地图、图标和菜单。

双核SoC产品，整合了图像识别处理功能，如驾驶辅助系统的车道检测。片上图像识别处理功能的SH7774（SH-Navi2）。