ADG5412防闩锁器件可以在1-ms脉冲上耐受500mA而不发生失效
发布时间:2021/11/3 21:47:21 访问次数:136
内部寄生电阻发展出足以维持闩锁条件的压降之前该过压条件下 I/O 引脚扇入扇出的过电流量，划分输入和输出对闩锁的敏感性性。
ADG5412防闩锁系列中的器件可以在1-ms 脉冲上耐受500mA 而不发生失效。ADI公司的闩锁测 试是根据 EIA/JEDEC-78（IC 闩锁测试）来执行的。
ESD是器件上一种Z为常见的电压瞬变现象，具体定义为“带有不同电势差的两个物体之间发生的单次快速高电流静电电荷转移。
两种模块的样品将在2003年九月提供.批量生产计划在2003年十月开始.
直到现在,CIF或VGA格式是大多数手机照相机的标准.这些低质量模块对手机摄取图像和电邮图像是足够用的.但要,随着高质量图像打印和在PC上观看图像的需要,在手机中增加象素成为必然的结果.
更进一步,当前手机的标准尺寸和厚度还需维持,这就会导致必须使用紧凑/瘦身的百万级象素CCD照相机模块.
因此，晶体管之间的寄生PN结被消除，从而生产出完全不会发生闩锁效应的开关电路.
(素材来源：ttic和eccn.如涉版权请联系删除。特别感谢）
内部寄生电阻发展出足以维持闩锁条件的压降之前该过压条件下 I/O 引脚扇入扇出的过电流量，划分输入和输出对闩锁的敏感性性。
ADG5412防闩锁系列中的器件可以在1-ms 脉冲上耐受500mA 而不发生失效。ADI公司的闩锁测 试是根据 EIA/JEDEC-78（IC 闩锁测试）来执行的。
ESD是器件上一种Z为常见的电压瞬变现象，具体定义为“带有不同电势差的两个物体之间发生的单次快速高电流静电电荷转移。
两种模块的样品将在2003年九月提供.批量生产计划在2003年十月开始.
直到现在,CIF或VGA格式是大多数手机照相机的标准.这些低质量模块对手机摄取图像和电邮图像是足够用的.但要,随着高质量图像打印和在PC上观看图像的需要,在手机中增加象素成为必然的结果.
更进一步,当前手机的标准尺寸和厚度还需维持,这就会导致必须使用紧凑/瘦身的百万级象素CCD照相机模块.
因此，晶体管之间的寄生PN结被消除，从而生产出完全不会发生闩锁效应的开关电路.
(素材来源：ttic和eccn.如涉版权请联系删除。特别感谢）
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