外围IC测试的Joule 20高频测试插座低等待时间驱动网关应用
发布时间:2021/5/14 7:56:12 访问次数:240
插座和测试应用解决方案今天宣布推出应用于外围IC测试的Joule 20高频测试插座。
当前随着5G等高速通讯标准的升级,新的RF芯片广泛应用于手机,平板,可穿戴设备,无人驾驶汽车等移动设备,对RF射频测试插座的需求越来越多,标准也越来越高。
Joule 20出色的接触技术和高频能力有效的保证了信号传输的可靠性和完整性。
此外,其创新的设计结构可允许拆卸测试插座外壳而无需将其从PCB板上卸下,在设备测试期间仍然可进行清洁和维护工作,从而大大减少了设备停机时间并提高了测试产量。
制造商:Micron Technology 产品种类:动态随机存取存储器 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:FBGA-96 系列: 封装:Tray 商标:Micron 湿度敏感性:Yes 产品类型:DRAM 1224 子类别:Memory & Data Storage
制造商:NXP产品种类:ARM微控制器 - MCURoHS: 封装:Tray商标:NXP Semiconductors湿度敏感性:Yes产品类型:ARM Microcontrollers - MCU180子类别:Microcontrollers - MCU零件号别名:935291594557
实时控制采用集成的800 MHz Arm® Cortex®-M7来实现.
强大的控制网络通过CAN-FD接口来实现.器件还有两个吉比特以太网,一个支持时间敏感网络(TSN),低等待时间驱动网关应用.
高工业系统安全可靠性由DRAM串联式ECC和内部软件接入SRAM支持的ECC所左右.
主要用在麻醉监护仪,异常检测,航空航天电子设备,除颤器,建筑物安全,电网和分配,工厂自动化,医疗图像,家庭自动化和家庭财服务器,以及安防和监护.
(素材来源:ttic和eccn.如涉版权请联系删除。特别感谢)
插座和测试应用解决方案今天宣布推出应用于外围IC测试的Joule 20高频测试插座。
当前随着5G等高速通讯标准的升级,新的RF芯片广泛应用于手机,平板,可穿戴设备,无人驾驶汽车等移动设备,对RF射频测试插座的需求越来越多,标准也越来越高。
Joule 20出色的接触技术和高频能力有效的保证了信号传输的可靠性和完整性。
此外,其创新的设计结构可允许拆卸测试插座外壳而无需将其从PCB板上卸下,在设备测试期间仍然可进行清洁和维护工作,从而大大减少了设备停机时间并提高了测试产量。
制造商:Micron Technology 产品种类:动态随机存取存储器 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:FBGA-96 系列: 封装:Tray 商标:Micron 湿度敏感性:Yes 产品类型:DRAM 1224 子类别:Memory & Data Storage
制造商:NXP产品种类:ARM微控制器 - MCURoHS: 封装:Tray商标:NXP Semiconductors湿度敏感性:Yes产品类型:ARM Microcontrollers - MCU180子类别:Microcontrollers - MCU零件号别名:935291594557
实时控制采用集成的800 MHz Arm® Cortex®-M7来实现.
强大的控制网络通过CAN-FD接口来实现.器件还有两个吉比特以太网,一个支持时间敏感网络(TSN),低等待时间驱动网关应用.
高工业系统安全可靠性由DRAM串联式ECC和内部软件接入SRAM支持的ECC所左右.
主要用在麻醉监护仪,异常检测,航空航天电子设备,除颤器,建筑物安全,电网和分配,工厂自动化,医疗图像,家庭自动化和家庭财服务器,以及安防和监护.
(素材来源:ttic和eccn.如涉版权请联系删除。特别感谢)