NIR激光二极管SiPM传感器的信号数字处理
发布时间:2021/3/27 0:47:57 访问次数:295
这项联合努力形成了一种增强的测试方法，AutoQual+，使用AEC-Q101测试作为基线，然后添加额外的测试来解决GaN特定的失效机制。
AutoQual+的附加测试确保了GaN Systems的功率器件在汽车环境的严酷环境中是可靠和稳健的。GaN系统产品满足汽车行业要求的使用寿命要求，显示的拟合率远低于1,为GaN行业树立了新的基准。
GaN Systems的晶体管已经通过AutoQual+测试方法进行了测试和验证，这是一种源于我们与汽车合作伙伴多次研讨所总结的测试方案。
制造商:NXP 产品种类:接口-I/O扩展器 最小工作温度:- 40 C 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:TSSOP-28 封装:Cut Tape 封装:MouseReel 封装:Reel 商标:NXP Semiconductors 产品类型:I/O Expanders 工厂包装数量2500 子类别:Interface ICs 零件号别名:935286414118 单位重量:101.122 mg
安森美半导体开发的SiPM dToF激光雷达平台提供低成本、单点激光雷达的完整方案，原始设备制造商 (OEM) 可灵活调整并投入生产，以创建工业测距应用。
它包括NIR激光二极管、SiPM传感器和光学器件，以及将检测到的信号转换为经过时间，以及将经过时间转换为距离所需的数字处理。
(素材来源：ttic和eccn.如涉版权请联系删除。特别感谢）
这项联合努力形成了一种增强的测试方法，AutoQual+，使用AEC-Q101测试作为基线，然后添加额外的测试来解决GaN特定的失效机制。
AutoQual+的附加测试确保了GaN Systems的功率器件在汽车环境的严酷环境中是可靠和稳健的。GaN系统产品满足汽车行业要求的使用寿命要求，显示的拟合率远低于1,为GaN行业树立了新的基准。
GaN Systems的晶体管已经通过AutoQual+测试方法进行了测试和验证，这是一种源于我们与汽车合作伙伴多次研讨所总结的测试方案。
制造商:NXP 产品种类:接口-I/O扩展器 最小工作温度:- 40 C 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:TSSOP-28 封装:Cut Tape 封装:MouseReel 封装:Reel 商标:NXP Semiconductors 产品类型:I/O Expanders 工厂包装数量2500 子类别:Interface ICs 零件号别名:935286414118 单位重量:101.122 mg
安森美半导体开发的SiPM dToF激光雷达平台提供低成本、单点激光雷达的完整方案，原始设备制造商 (OEM) 可灵活调整并投入生产，以创建工业测距应用。
它包括NIR激光二极管、SiPM传感器和光学器件，以及将检测到的信号转换为经过时间，以及将经过时间转换为距离所需的数字处理。
(素材来源：ttic和eccn.如涉版权请联系删除。特别感谢）
相关技术资料- 5-23TLC（Triple Level Cell）4D NAND闪存应用
- 5-23视频生成模型Veo 3+ Flow应用参数设计
- 5-23扩散语言模型Gemini Diffusion解读
- 5-23氮化炮（GAN）智能功率模块（IPMS）探究
- 5-23集成照片传感器和被动过滤器系列详解
- 5-2318输出网络同步器与JESD204B/C产品详情
- 5-22双核 STM32H747 MCU芯片应用探究
- 5-22第七代酷睿处理器系列新技术介绍
- 5-22新一代骁龙 8 旗舰处理器应用详解
- 5-22数据中心芯片AI 100际应用场景分析
- 5-22首款Arm架构服务器芯片Centriq 2400
- 5-2212英寸碳化硅衬底激光剥离自动化解决方案
公网安备44030402000607
