工程应用中的误差分析

   焦平面器件测试过程中,因为一些标准部件和相应测试装置参与表征焦平面的特性, HA7207PC因此,会给焦平面性能参数的测量带来诸多误差。这些误差可能来自测试系统的固有误差,或产生于不同测量转换时测试装置的不可重复性,主要来自三个方面误差,即光学的误差、电子学的误差和机械误差。

   光学误差主要由光学对准不良产生,许多光学零件常需要把红外能量引导并聚焦到探测器上,每一个零件至少有三个移动自由度。这些光学元件的定位误差是累计的,很难确定它们的量值。例如光串音测试,光点尺寸是一个关键光学参数。在探测器上产生一个非常小的光点,需要一套标准光学系统,这一光学系统对散焦误差非常灵敏。光点的X-Y位置也很重要,扫描测试需要将X-Y平移光点正确对准列阵的取向,否则将会出现杂散和渐晕问题,造成测试误差。

   焦平面测试中响应率、噪声等参数测试可归结为响应电压的测试。其主要误差源来自采集数据所用的测试装置产生的电噪声。在焦平面测试环境中,与焦平面工作不同步的噪声是通过计算机和外部设备、电源、数字信号处理电子设备等部件产生的。在器件测试中,必须

消除被测器件和潜在噪声源之间的可能通道,才能保证测试的准确性。同时,要实现焦平面测试结果的一致性,其测试装置的重复性也是非常重要的一个方面。测量系统包括许多可调部件,很难变换测试配置。目前一般使用一组可快速更换的模块化部件,对系统快速调节、精确记录配置状况,实现检测结果的重复性。通过这种集成方法可消除许多与装调及多种测试配置对准有关的误差。