原理概要

   响应率、响应率不均匀性、噪声、探测率和有效像元率等参数的测试,可归结为两种辐照条件下的响应电压测试。即背景辐照条件下的响应电压测试和背景加黑体辐照条件下的响应电压测试,简称背景响应电压测试和黑体响应电压测试。GS84036AB-166这两种辐照都必须是恒定均匀的。在测得背景响应电压和黑体响应电压后,响应率等各特性参数可根据定义计算得到。

   测试方法

   测试系统如图10名所示,包括黑体源、杜瓦瓶、电子电路及计算机四大部分。

   测试条件如下:

   (a)黑体源温度范围:室温~1000K,输出不加调制;

   (b)黑体辐射面元尺寸应大于被测焦平面的尺寸,以保证焦平面各像元均匀辐照;

   (c)焦平面的输出信号电压经放大和预处理后,不得超过ⅣD转换器的动态范围。

   响应电压测试

   利用图10-3所示的测试系统,分别在背景条件(一般取293Κ黑体)及黑体加背景条件(一般取308K黑体)下,连续采集F帧数据(一般取F≥100),(若被测器件为线列焦平面,则连续采集F行数据),得到如图10叫所示的2组F帧两维数组。在背景条件下,测得的F帧两维数组为‰s[(',力,背景,/⒈在黑体加背景条件下,测得的F帧两维数组为‰s[(F,D,背景+黑体.